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J-GLOBAL ID:202103018251243724

試料処理装置、ホルダ、および試料測定システム

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発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 芝野 正雅 ,  大橋 誠 ,  西谷 香代子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2019-153282
公開番号(公開出願番号):特開2021-032707
出願日: 2019年08月23日
公開日(公表日): 2021年03月01日
要約:
【課題】構造を複雑化せず、かつ、オペレータが所望する方法とは異なる方法で試料が処理されることを抑制できる試料処理装置、ホルダ、および試料測定システムを提供する。【解決手段】本発明の試料処理装置(100、100a、100b、200)は、容器に収容された試料に対する処理を行う試料処理装置であって、容器を保持し、互いに形状が異なる複数のホルダ(51〜56)と、前記複数のホルダのそれぞれの形状に対応し、互いに形状が異なる複数のホルダ受入部(141、20)を備えるホルダ配置部(140、240)と、前記ホルダ配置部に配置された前記ホルダに保持された容器に収容された試料に対する処理を行う試料処理部(105、280)と、を備える。【選択図】図5
請求項(抜粋):
容器に収容された試料に対する処理を行う試料処理装置であって、 前記容器を保持し、互いに形状が異なる複数のホルダと、 前記複数のホルダのそれぞれの形状に対応し、互いに形状が異なる複数のホルダ受入部を備えるホルダ配置部と、 前記ホルダ配置部に配置された前記ホルダに保持された容器に収容された前記試料に対する処理を行う試料処理部と、を備える、試料処理装置。
IPC (1件):
G01N 35/04
FI (1件):
G01N35/04 H
Fターム (4件):
2G058CB15 ,  2G058CF09 ,  2G058CF17 ,  2G058GE04
引用特許:
審査官引用 (2件)

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