特許

J-GLOBAL ID：202203008939070744

温度校正方法

発明者： 圓山 重直 ,  岡部 孝裕 ,  井関 祐也 ,  野中 崇 ,  古川 琢磨 ,  細川 靖 ,  折戸 学
出願人/特許権者： SEMITEC株式会社 ,  独立行政法人国立高等専門学校機構 ,  国立大学法人弘前大学
代理人 (1件)： 和泉 順一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2021-086036
公開番号（公開出願番号）：特開2022-178910
出願日： 2021年05月21日
公開日（公表日）： 2022年12月02日
要約：

【課題】温度の校正を短時間で効率的に行うことができるとともに温度の校正精度を向上することが可能な温度校正方法を提供する。 【解決手段】基準温度センサ5及び被校正温度センサTの配置部25が形成された温度校正ブロック2を備える温度校正装置10による温度校正方法であって、前記温度校正ブロック2の漸次的な温度変化の移行過程における温度状態を校正温度とする。温度校正装置10は、温度校正ブロック2を囲むように真空領域Vaを有し、温度校正ブロック2を収容する収容部が設けられた真空断熱容器1と、温度校正ブロック2と熱的に結合されるペルチェモジュール3と、を具備する。 【選択図】図5

請求項（抜粋）：

基準温度センサ及び被校正温度センサの配置部が形成された温度校正ブロックを備える温度校正装置による温度校正方法であって、 前記温度校正ブロックの漸次的な温度変化の移行過程における温度状態を校正温度とすることを特徴とする温度校正方法。

IPC (1件)：

G01K 15/00

FI (1件)：

G01K15/00

Fターム (2件)：

2F056XA01 ,  2F056XA07

引用特許：

出願人引用 (6件)

• 恒温発生装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-260890   出願人：神栄株式会社
• 温度可変型低温度校正装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-056860   出願人：独立行政法人産業技術総合研究所
• 低温用比較校正装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2015-070411   出願人：株式会社岡崎製作所
• 実開平4-18329号公報
  
• 特許第4714850号公報
  
• 温度校正法及びそれを用いた装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-387918   出願人：テラメックス株式会社

審査官引用 (3件)

• 温度計の低温度校正装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-072460   出願人：独立行政法人産業技術総合研究所
• 低温用比較校正装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2015-070411   出願人：株式会社岡崎製作所
• 恒温装置用均熱ブロック
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2010-149064   出願人：株式会社チノー