文献

J-GLOBAL ID：202302246499951907   整理番号：23A3033805

J-PARC muon g-2/EDM実験:シリコンストリップ検出器用読み出しASICの品質検査結果

J-PARC muon g - 2/EDM experiment: Result of quality inspection of readout ASICs of the silicon strip detector

著者 (53件)： 山中隆志 (九大) ,  山中隆志 (Open-It) ,  池野正弘 (KEK 素核研) ,  池野正弘 (Open-It) ,  上野一樹 (大阪大 理) ,  上野一樹 (Open-It) ,  梅林恵祐 (九大 理) ,  岡崎佑太 (KEK 素核研) ,  岡崎佑太 (Open-It) ,  岡村麗矢 (新大) ,  小川真治 (九大 RCAPP) ,  小川真治 (Open-It) ,  川越清以 (九大 理) ,  岸下徹一 (KEK 素核研) ,  岸下徹一 (Open-It) ,  久米達哉 (KEK 機械工セ) ,  高力孝 (KEK 素核研) ,  高力孝 (Open-It) ,  齊藤直人 (KEK 素核研) ,  佐々木修 (KEK 素核研) ,  佐々木修 (Open-It) ,  佐藤太希 (東大 理) ,  佐藤伸彦 (KEK 機械工セ) ,  佐藤優太郎 (新大 理) ,  佐藤優太郎 (Open-It) ,  庄子正剛 (KEK 素核研) ,  庄子正剛 (Open-It) ,  末原大幹 (九大 理) ,  末原大幹 (Open-It) ,  鈴木純一 (KEK 素核研) ,  須田利美 (東北大) ,  清野義敬 (富山工高専) ,  千代浩司 (KEK 素核研) ,  千代浩司 (Open-It) ,  高富俊和 (KEK 機械工セ) ,  田中真伸 (KEK 素核研) ,  田中真伸 (Open-It) ,  東城順治 (九大 理) ,  東城順治 (Open-It) ,  西村昇一郎 (KEK 物構研) ,  西村昇一郎 (Open-It) ,  藤田陽一 (KEK 素核研) ,  藤田陽一 (Open-It) ,  本多佑記 (東北大) ,  本多良太郎 (KEK 素核研) ,  本多良太郎 (Open-It) ,  水取雅登 (九大 理) ,  三部勉 (KEK 素核研) ,  三部勉 (Open-It) ,  山岡広 (KEK 素核研) ,  矢村昂暉 (新大) ,  吉岡瑞樹 (九大 RCAPP) ,  吉岡瑞樹 (Open-It)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 78  号： 2  ページ： ROMBUNNO.16aRC21-11  発行年： 2023年09月25日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： J-PARC muon g - 2/EDM実験では、蓄積磁場内でのミューオン崩壊から生じる陽電子の飛跡をシリコンストリップ検出器で検出する。この検出器で使用するシリコンストリップセ...【本文一部表示】

シソーラス用語： 研究施設 ,  μ粒子 ,  *陽電子 ,  *放射線検出器 ,  電気回路 ,  *ASIC ,  カード【形】 ,  *J-PARC
準シソーラス用語： *シリコン検出器 ,  *プローブカード ,  *読出回路

分類 (1件)： 素粒子・核物理実験計測用エレクトロニクス  (BE01020Q)

タイトルに関連する用語 (8件)： J-PARC ,  EDM ,  実験 ,  シリコン ,  ストリップ ,  検出器 ,  ASIC ,  品質検査