Pat
J-GLOBAL ID:200903000180041929
フォーカスモニタ方法及び露光装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
鈴江 武彦 (外6名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001090774
Publication number (International publication number):2002289503
Application date: Mar. 27, 2001
Publication date: Oct. 04, 2002
Summary:
【要約】【課題】 フォーカスモニタのために特別なマスクを用いることなく、投影光学系によるフォーカスを高い感度で精度良く測定する。【解決手段】 電子線によって照明されたマスク上のフォーカスモニタ用パターンを投影光学系によって被露光基板上に転写し、該基板上のパターンを測定することによって実効的なフォーカスをモニタするフォーカスモニタ方法であって、フォーカスモニタ用パターンを2種類のパターン群A,Bで構成し、パターン群Aを照明光源の重心が軸はずれの状態での照明光によって照明し、パターン群Bを照明光源の重心が軸上に存在する通常の照明状態での照明光によって照明し、基板上に転写されたパターン群Aとパターン群Bとの相対的な位置を測定することによってフォーカスをモニタする。
Claim (excerpt):
電磁波又は電子線によって照明されたマスク上のフォーカスモニタ用パターンを投影光学系によって被露光基板上に転写し、該基板上のパターンを測定することによって実効的なフォーカスをモニタするフォーカスモニタ方法であって、前記フォーカスモニタ用パターンは少なくとも2種類のパターン群からなり、その一方のパターン群Aを照明光源の重心が軸はずれの状態での照明光によって照明し、残りのパターン群Bを照明光源の重心が軸上に存在する通常の照明状態での照明光によって照明し、前記基板上に転写されたパターン群Aとパターン群Bとの相対的な位置を測定することを特徴とするフォーカスモニタ方法。
IPC (5):
H01L 21/027
, G01B 11/00
, G03F 1/08
, G03F 7/207
, G01B 15/00
FI (6):
G01B 11/00 C
, G03F 1/08 P
, G03F 7/207 H
, G01B 15/00 B
, H01L 21/30 526 Z
, H01L 21/30 541 F
F-Term (22):
2F065AA14
, 2F065BB13
, 2F065CC20
, 2F065LL42
, 2F067AA03
, 2F067AA13
, 2F067BB01
, 2F067BB04
, 2F067CC16
, 2F067EE04
, 2F067HH01
, 2F067HH06
, 2H095BE05
, 2H095BE08
, 2H095BE09
, 5F046CB17
, 5F046CB25
, 5F046DA14
, 5F046DB05
, 5F056BA08
, 5F056CB32
, 5F056EA05
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (9)
-
露光装置の検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-187624
Applicant:株式会社東芝
-
レンズの収差測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-037473
Applicant:株式会社東芝
-
露光方法及び露光装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-340640
Applicant:キヤノン株式会社
-
ディストーション計測方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-320431
Applicant:株式会社ニコン
-
ベストフォーカス計測方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-264658
Applicant:株式会社ニコン
-
収差計測方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-264660
Applicant:株式会社ニコン
-
ダミー回折マスク
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-123907
Applicant:財団法人韓国電子通信研究所
-
計測方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-203073
Applicant:株式会社ニコン
-
特開昭63-151948
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Cited by examiner (9)
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ベストフォーカス計測方法
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Application number:特願平4-264658
Applicant:株式会社ニコン
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ダミー回折マスク
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-123907
Applicant:財団法人韓国電子通信研究所
-
収差計測方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-264660
Applicant:株式会社ニコン
-
特開昭63-151948
-
レンズの収差測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-037473
Applicant:株式会社東芝
-
計測方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-203073
Applicant:株式会社ニコン
-
ディストーション計測方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-320431
Applicant:株式会社ニコン
-
露光方法及び露光装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-340640
Applicant:キヤノン株式会社
-
露光装置の検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-187624
Applicant:株式会社東芝
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