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J-GLOBAL ID:200903002563278283

Ni合金ターゲットおよびNi合金薄膜

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 鴨田 朝雄 ,  鴨田 哲彰
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003414662
Publication number (International publication number):2005171341
Application date: Dec. 12, 2003
Publication date: Jun. 30, 2005
Summary:
【課題】 ターゲット特性(飽和磁化)に優れた使用効率の高いスパッタリングターゲット、かつ、電極膜特性(導電性および密着強度)に優れた薄膜を提供する。【解決手段】 Tiを1〜20質量%、Cuを1〜40質量%含み、残部が実質的にNiである組成を有するスパッタリングターゲットである。また、当該ターゲットを使用して、スパッタリング法によりセラミック基板上にNi合金薄膜を形成することにより、2層電極膜を作製する。【選択図】 図4
Claim (excerpt):
Tiを1〜20質量%、Cuを1〜40質量%含み、残部が実質的にNiである組成を有するスパッタリングターゲット。
IPC (2):
C22C19/03 ,  C23C14/34
FI (2):
C22C19/03 G ,  C23C14/34 A
F-Term (4):
4K029BA25 ,  4K029DC01 ,  4K029DC02 ,  4K029DC04
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • チップ抵抗器用電極膜
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2001-311064   Applicant:住友金属鉱山株式会社

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