Pat
J-GLOBAL ID:200903002563278283
Ni合金ターゲットおよびNi合金薄膜
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
鴨田 朝雄
, 鴨田 哲彰
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003414662
Publication number (International publication number):2005171341
Application date: Dec. 12, 2003
Publication date: Jun. 30, 2005
Summary:
【課題】 ターゲット特性(飽和磁化)に優れた使用効率の高いスパッタリングターゲット、かつ、電極膜特性(導電性および密着強度)に優れた薄膜を提供する。【解決手段】 Tiを1〜20質量%、Cuを1〜40質量%含み、残部が実質的にNiである組成を有するスパッタリングターゲットである。また、当該ターゲットを使用して、スパッタリング法によりセラミック基板上にNi合金薄膜を形成することにより、2層電極膜を作製する。【選択図】 図4
Claim (excerpt):
Tiを1〜20質量%、Cuを1〜40質量%含み、残部が実質的にNiである組成を有するスパッタリングターゲット。
IPC (2):
FI (2):
C22C19/03 G
, C23C14/34 A
F-Term (4):
4K029BA25
, 4K029DC01
, 4K029DC02
, 4K029DC04
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
-
チップ抵抗器用電極膜
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-311064
Applicant:住友金属鉱山株式会社
Return to Previous Page