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J-GLOBAL ID:200903002693631406

紫外光照射による酸化物半導体薄膜の作製法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 筒井 知
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004085867
Publication number (International publication number):2005272189
Application date: Mar. 24, 2004
Publication date: Oct. 06, 2005
Summary:
【課題】 簡易な操作により、基材の特定部位に、導電性または光触媒機能を有する金属酸化物薄膜を形成することのできる技術を提供する。【解決手段】 所望の金属酸化物の前駆体となる金属有機化合物を有機溶媒中に分散し、該金属有機化合物分散溶液に浸漬した基材に紫外領域のレーザー光(好ましくは300nm以上の長波長の紫外光レーザー)を照射することにより、該基材の光照射部位に前記金属酸化物の薄膜を生成する。酸化インジウム、酸化スズまたは酸化チタンなどの薄膜の作製に適している。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
所望の金属酸化物の前駆体となる金属有機化合物を有機溶媒中に分散し、該金属有機化合物分散溶液に浸漬した基材に紫外領域のレーザー光を照射することにより、該基材の光照射部位に前記金属酸化物の薄膜を生成する工程を含むことを特徴とする、金属酸化物薄膜の作製方法。
IPC (3):
C01B13/32 ,  B01J35/02 ,  C01G15/00
FI (3):
C01B13/32 ,  B01J35/02 J ,  C01G15/00 B
F-Term (20):
4G042DA01 ,  4G042DB15 ,  4G042DC01 ,  4G042DD02 ,  4G042DE07 ,  4G042DE14 ,  4G069AA02 ,  4G069AA08 ,  4G069BA04B ,  4G069BA48A ,  4G069BB04A ,  4G069BB04B ,  4G069BC18A ,  4G069BC18B ,  4G069BC22A ,  4G069CA01 ,  4G069CA10 ,  4G069EA07 ,  4G069FA03 ,  4G069FB58
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (9)
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