Pat
J-GLOBAL ID:200903002693631406
紫外光照射による酸化物半導体薄膜の作製法
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
筒井 知
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004085867
Publication number (International publication number):2005272189
Application date: Mar. 24, 2004
Publication date: Oct. 06, 2005
Summary:
【課題】 簡易な操作により、基材の特定部位に、導電性または光触媒機能を有する金属酸化物薄膜を形成することのできる技術を提供する。【解決手段】 所望の金属酸化物の前駆体となる金属有機化合物を有機溶媒中に分散し、該金属有機化合物分散溶液に浸漬した基材に紫外領域のレーザー光(好ましくは300nm以上の長波長の紫外光レーザー)を照射することにより、該基材の光照射部位に前記金属酸化物の薄膜を生成する。酸化インジウム、酸化スズまたは酸化チタンなどの薄膜の作製に適している。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
所望の金属酸化物の前駆体となる金属有機化合物を有機溶媒中に分散し、該金属有機化合物分散溶液に浸漬した基材に紫外領域のレーザー光を照射することにより、該基材の光照射部位に前記金属酸化物の薄膜を生成する工程を含むことを特徴とする、金属酸化物薄膜の作製方法。
IPC (3):
C01B13/32
, B01J35/02
, C01G15/00
FI (3):
C01B13/32
, B01J35/02 J
, C01G15/00 B
F-Term (20):
4G042DA01
, 4G042DB15
, 4G042DC01
, 4G042DD02
, 4G042DE07
, 4G042DE14
, 4G069AA02
, 4G069AA08
, 4G069BA04B
, 4G069BA48A
, 4G069BB04A
, 4G069BB04B
, 4G069BC18A
, 4G069BC18B
, 4G069BC22A
, 4G069CA01
, 4G069CA10
, 4G069EA07
, 4G069FA03
, 4G069FB58
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (9)
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特開平3-075203
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特開昭59-169905
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金属微粒子の導電性材料表面への光析出・固定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-276369
Applicant:科学技術振興事業団
-
金属微粒子の光固定化方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-342146
Applicant:科学技術振興事業団
-
特開平1-294506
-
複合酸化物膜の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-063296
Applicant:株式会社関西新技術研究所
-
特開昭64-087780
-
金属酸化物薄膜の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-082564
Applicant:工業技術院長
-
金属酸化物膜の形成方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-356117
Applicant:富士通株式会社
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