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J-GLOBAL ID:200903005095205400

ナビゲーション装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 田澤 博昭 ,  加藤 公延 ,  田澤 英昭 ,  濱田 初音
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004309770
Publication number (International publication number):2006119090
Application date: Oct. 25, 2004
Publication date: May. 11, 2006
Summary:
【課題】 カメラを任意の位置に取り付けることができ、カメラで撮影した前方画像と3D地図とを一致させて周囲状況に応じた案内が可能なナビゲーション装置を提供する。【解決手段】 現在位置を検出する位置検出手段24と、検出された現在位置に応じた2D地図データを取得する地図情報取得手段11と、移動体が進行する方位の前方を撮像する撮像手段10と、取得された2D地図データに基づき生成される2D地図の俯瞰角度、倍率および横方向位置を調整して、撮像手段で撮像することにより得られた前方画像に一致する3D地図を生成する3D地図生成手段12と、前方画像および3D地図生成手段で生成された3D地図を、2Dの前方画像および2D地図にそれぞれ変換して照合を行い、自己の周囲状況を判定する画像照合判定手段13と、画像照合判定手段により判定された周囲状況に基づき案内を行う制御手段35とを備えている。【選択図】 図2
Claim (excerpt):
現在位置を検出する位置検出手段と、 前記位置検出手段で検出された現在位置に応じた2D地図データを取得する地図情報取得手段と、 移動体が進行する方位の前方を撮像する撮像手段と、 前記地図情報取得手段で取得された2D地図データに基づき生成される2D地図の俯瞰角度、倍率および横方向位置を調整して、前記撮像手段で撮像することにより得られた前方画像に一致する3D地図を生成する3D地図生成手段と、 前記撮像手段で撮像することにより得られた前方画像および前記3D地図生成手段で生成された3D地図を、2Dの前方画像および2D地図にそれぞれ変換して照合を行い、自己の周囲状況を判定する画像照合判定手段と、 前記画像照合判定手段により判定された周囲状況に基づき案内を行う制御手段 とを備えたナビゲーション装置。
IPC (6):
G01C 21/00 ,  G06T 1/00 ,  G08G 1/096 ,  G08G 1/16 ,  G09B 29/00 ,  G09B 29/10
FI (7):
G01C21/00 C ,  G01C21/00 G ,  G06T1/00 330A ,  G08G1/0969 ,  G08G1/16 C ,  G09B29/00 A ,  G09B29/10 A
F-Term (55):
2C032HB02 ,  2C032HB05 ,  2C032HB22 ,  2C032HC08 ,  2C032HC13 ,  2C032HC14 ,  2C032HC15 ,  2C032HC21 ,  2C032HC23 ,  2C032HC31 ,  2C032HD03 ,  2C032HD30 ,  2F029AA02 ,  2F029AB01 ,  2F029AB07 ,  2F029AB13 ,  2F029AC02 ,  2F029AC03 ,  2F029AC04 ,  2F029AC09 ,  2F029AC14 ,  2F029AC18 ,  2F029AD01 ,  5B057AA16 ,  5B057CA12 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CB12 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057CD05 ,  5B057CD14 ,  5B057CE15 ,  5B057CF05 ,  5B057DA07 ,  5B057DA08 ,  5B057DB02 ,  5B057DB03 ,  5B057DC04 ,  5B057DC08 ,  5B057DC32 ,  5H180AA01 ,  5H180CC04 ,  5H180CC12 ,  5H180FF04 ,  5H180FF05 ,  5H180FF23 ,  5H180FF24 ,  5H180FF25 ,  5H180FF27 ,  5H180FF32 ,  5H180FF38 ,  5H180LL01 ,  5H180LL04 ,  5H180LL09
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (20)
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Cited by examiner (19)
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