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J-GLOBAL ID:200903006703131925
視点位置検出方法及び検出装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
鈴木 章夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997231962
Publication number (International publication number):1999072697
Application date: Aug. 28, 1997
Publication date: Mar. 16, 1999
Summary:
【要約】【課題】 視点追従型立体表示装置などで用いられる瞳孔抽出による視点位置検出装置において、撮像装置と光軸を同軸とする単一の照明装置を用いた簡単な装置構成で観察者の瞳孔を安定に抽出し、非接触で正確な視点位置検出を行う。【解決手段】 観察者(被検出者)130の顔面を照明する赤外光照明装置101と、照明された観察者130の顔面を撮像する撮像装置102と、観察者130の瞳孔位置を検出するための所定の処理を施す画像処理装置120を有する。画像処理装置120では画像メモリ104に蓄積された画像は画像微分演算部105により空間的な微分演算が施される。その後、画像絶対値演算部106により画像微分演算部105の出力画像の絶対値がそれぞれの画素ごとに計算され、その結果を画像2値化演算部107によりそれぞれの画素ごとに2値化し、視点位置算出部108により2値化された画像の明るい部分の座標位置から観察者の視点位置を検出する。
Claim (excerpt):
被検出者の顔面を照明するとともに撮像し、撮像により得られた前記被検出者の顔面画像値を微分演算し、かつこの演算結果の絶対値を求めるとともに、この絶対値を閾値と比較し、前記閾値よりも大きな値の箇所を前記被検出者の視点位置として検出することを特徴とする視点位置検出方法。
IPC (4):
G02B 7/28
, A61B 5/107
, G03B 13/36
, G03B 21/00
FI (4):
G02B 7/11 N
, G03B 21/00 D
, A61B 5/10 300 Z
, G03B 3/00 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (39)
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顔画像の特徴量認識装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-101904
Applicant:日産自動車株式会社
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視線検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-312680
Applicant:キヤノン株式会社
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眼球検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-327548
Applicant:キヤノン株式会社
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特開平1-241511
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特開平1-308552
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特開平3-177826
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特開平4-242627
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特開平2-065835
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特開平1-274736
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特開平4-347130
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特開平4-175712
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特開平2-058011
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特開平2-234577
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特開平2-140057
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特開平2-285475
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視線検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-183534
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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画像上のエッジ検出方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-208101
Applicant:アイシン精機株式会社
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タイトル画処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-162834
Applicant:キヤノン株式会社
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特開平4-316177
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視覚認識装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-282744
Applicant:株式会社東芝
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表面状態検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-015883
Applicant:マツダ株式会社
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物体検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-066194
Applicant:エヌ・ティ・ティ・データ通信株式会社
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自動焦点調節装置及びカメラ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-157776
Applicant:キヤノン株式会社
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特開平1-205678
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特開平3-158812
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特開昭61-172552
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特開昭63-256810
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特開昭63-169879
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特開昭62-247202
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特開昭62-211780
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特開昭62-120179
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半導体位置検出素子演算回路
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-265772
Applicant:日本電気株式会社
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特開昭64-029785
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特開昭61-267714
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特開昭60-262004
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特開昭63-256278
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特許第5063448号
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特許第5126838号
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特許第4553260号
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