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J-GLOBAL ID:200903015969219665
記憶素子及びメモリ
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
角田 芳末
, 磯山 弘信
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004354425
Publication number (International publication number):2006165265
Application date: Dec. 07, 2004
Publication date: Jun. 22, 2006
Summary:
【課題】 スピン注入効率を向上することにより、書き込みに要する電流値を低減することができる記憶素子を提供する。【解決手段】 情報を磁性体の磁化状態により保持する記憶層17の上下に、中間層16,18を介して磁化固定層31,32が設けられ、それぞれの中間層16,18がいずれも絶縁層から成り、記憶層17の上下の磁化固定層31,32のそれぞれ記憶層17に最も近い強磁性層15,19の磁化M15,M19の向きが互いに反対向きであり、記憶層17の上下2つの中間層16,18の面積抵抗値が異なり、積層方向に電流を流すことにより記憶層17の磁化M1の向きが変化して、記憶層に情報が記録される記憶素子3を構成する。【選択図】 図2
Claim (excerpt):
情報を磁性体の磁化状態により保持する記憶層を有し、
前記記憶層の上下に、それぞれ中間層を介して磁化固定層が設けられ、
それぞれの前記中間層がいずれも絶縁層から成り、
前記記憶層の上下の前記磁化固定層において、それぞれ前記記憶層に最も近い強磁性層の磁化の向きが互いに反対向きであり、
積層方向に電流を流すことにより、前記記憶層の磁化の向きが変化して、前記記憶層に対して情報の記録が行われ、
前記記憶層の上下2つの前記中間層の面積抵抗値が異なる
ことを特徴とする記憶素子。
IPC (5):
H01L 43/08
, G11C 11/15
, H01F 10/16
, H01L 27/105
, H01L 21/824
FI (4):
H01L43/08 Z
, G11C11/15 112
, H01F10/16
, H01L27/10 447
F-Term (4):
5E049AA01
, 5E049AA04
, 5E049BA06
, 5F083FZ10
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
Cited by examiner (5)
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磁気抵抗効果素子および磁気記録素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-265663
Applicant:株式会社東芝
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磁気抵抗効果素子および磁気メモリ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-203783
Applicant:株式会社東芝
-
磁気抵抗効果素子およびその製造方法並びに磁気メモリ装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-366346
Applicant:ソニー株式会社
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磁気セル及び磁気メモリ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-396201
Applicant:株式会社東芝
-
磁気トンネル接合素子及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-220587
Applicant:ソニー株式会社
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