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J-GLOBAL ID：200903017873765343

分光測定装置

Inventor：
東 昇

About 東 昇

, 
中谷 貴之

About 中谷 貴之


Applicant, Patent owner：
倉敷紡績株式会社

About 倉敷紡績株式会社


Agent (5)： 青山 葆 ,  河宮 治 ,  伊藤 晃 ,  山本 俊則 ,  中塚 雅也
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002349819
Publication number (International publication number)：2004184162
Application date： Dec. 02, 2002
Publication date： Jul. 02, 2004
Summary：
【課題】供給条件が経時的に変化するサンプル液を高精度で連続的に分光測定することができる分光測定装置を提供する。【解決手段】分光測定装置1は、測定セル3の内部にサンプル液を流通させ、連続的に測定を行うものであって、測定セル3の上流側に接続され、前記測定セルより高位置に配置されたサンプリング機構2を有し、前記サンプリング機構2は、所定量のサンプル液を一時的に蓄積する蓄積槽20と、当該装置に連続的に供給された前記サンプル液を前記蓄積槽に導く導入口21と、前記所定量を超えて蓄積槽に導入されたサンプル液を装置外部に排出する排出口22と、前記蓄積槽の最下位に設けられ前記測定セルと接続された給送口24とを備える。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
測定セルの内部にサンプル液を流通させ、連続的に測定を行う分光測定装置において、 前記測定セルの上流側に接続され、前記測定セルより高位置に配置されたサンプリング機構を有し、 前記サンプリング機構は、所定量のサンプル液を一時的に蓄積する蓄積槽と、当該装置に連続的に供給された前記サンプル液を前記蓄積槽に導く導入口と、前記所定量を超えて蓄積槽に導入されたサンプル液を装置外部に排出する排出口と、前記蓄積槽の最下位に設けられ前記測定セルと接続された給送口とを備えることを特徴とする分光測定装置。
IPC (4)：
G01N1/00 ,  C02F1/00 ,  G01N21/05 ,  G01N21/11
FI (5)：
G01N1/00 101G ,  G01N1/00 101H ,  C02F1/00 V ,  G01N21/05 ,  G01N21/11
F-Term (23)：
2G052AA06 ,  2G052AB13 ,  2G052AC16 ,  2G052AC23 ,  2G052AD06 ,  2G052AD26 ,  2G052AD46 ,  2G052BA17 ,  2G052CA04 ,  2G052CA11 ,  2G052DA15 ,  2G052DA22 ,  2G052DA27 ,  2G052GA12 ,  2G052HA07 ,  2G052HA15 ,  2G052JA09 ,  2G052JA11 ,  2G057AA20 ,  2G057AC01 ,  2G057AD17 ,  2G057AD20 ,  2G057BA05
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (8)
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