時間測定装置及び距離測定装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：足立勉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001010470
Publication number (International publication number)：2002214369
Application date： Jan. 18, 2001
Publication date： Jul. 31, 2002
Summary：

【要約】【課題】基準クロックを用いた時間測定(粗測定)と、基準クロックの周期よりも短い基準時間を用いた時間測定(密測定)とを同時に行うことで、高精度な時間測定(距離測定)を短時間で実行し得る時間(距離)測定装置を提供する。【解決手段】スペクトラム拡散方式の距離測定装置に、測定対象時間を、相関器を用いて基準クロックの1周期を時間分解能として測定する粗測定回路20と、粗測定回路20で得られる測定時間に対する補正時間を測定する密測定回路30とを設ける。密測定回路30は、発光部14からPN符号に従い出射させた測距用レーザ光の反射光の受光パルスPBrと、PN符号の発生に用いた基準クロックCK10とを取り込み、これら各信号の立上がりエッジ時刻を時間A/D変換回路(TAD)34a,36aを用いて順次測定すると共に、各時刻の時間差を順次算出し、測距終了時に時間差の平均値を求めることで補正時間を算出する。

Claim (excerpt)：

一定周期の第1基準クロックを発生する第1基準クロック発生手段と、所定の測定開始時刻から時間測定対象パルスの入力時刻までの測定対象時間を、前記第1基準クロックを用いて測定する粗測定手段と、を備えた時間測定装置において、前記粗測定手段と並列に動作し、前記第1基準クロックよりも周期の短い基準時間を用いて、前記第1基準クロックの立上がりエッジ若しくは立下がりエッジである前記第1基準クロックの変化点と、前記時間測定対象パルスの入力時刻との時間差を、前記粗測定手段による測定時間に対する補正時間として測定する密測定手段を設けたことを特徴とする時間測定装置。

IPC (5)：

G04F 10/04 , B60R 21/00 624 , B60R 21/00 626 , G01S 13/28 , G01S 17/10

FI (5)：

G04F 10/04 A , B60R 21/00 624 D , B60R 21/00 626 F , G01S 13/28 B , G01S 17/10

F-Term (28)：

2F085AA06 , 2F085CC10 , 2F085EE08 , 2F085FF20 , 2F085GG06 , 2F085GG24 , 2F085GG25 , 2F085GG29 , 5J070AB10 , 5J070AC02 , 5J070AE01 , 5J070AF03 , 5J070AH04 , 5J070AH19 , 5J070AH31 , 5J070AK22 , 5J084AA05 , 5J084AB01 , 5J084AC02 , 5J084AD01 , 5J084BA04 , 5J084BA36 , 5J084CA03 , 5J084CA60 , 5J084CA68 , 5J084CA73 , 5J084DA10 , 5J084EA04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (12)

時間測定回路
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-029698 Applicant：株式会社光電製作所
時間A/D変換回路
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-189832 Applicant：日本電装株式会社
スペクトル拡散距離測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-155385 Applicant：三菱電機株式会社

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