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J-GLOBAL ID：200903026765423125

近接場光学用プローブ

Inventor： 成田 貴人 ,  井上 勉 ,  中村 高広 ,  大津 元一
Applicant, Patent owner： 日本分光株式会社 ,  科学技術振興事業団 ,  財団法人神奈川科学技術アカデミー
Agent (1)： 岩橋 祐司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999154029
Publication number (International publication number)：2001027597
Application date： Jun. 01, 1999
Publication date： Jan. 30, 2001
Summary：

【要約】【課題】 本発明は、試料の表面形状の把握と共に、その成分等の解析も行うために、所望の波長域における分光分析も適正に行うことのできる近接場光学用プローブを提供することを目的とする。【解決手段】 赤外透過性の良好な材質からなる光ファイバの先端部を先鋭化したテーパ化コア44と、該テーパ化コア44の表面に、該テーパ化コア44の先端部を除いて形成されたマスク46と、を備え、該マスク46から外部へ露出した該テーパ化コア44の先端部48より、赤外域における、入射光を測定試料に照射、ないし該測定試料からの散乱近接場光を捕捉可能なことを特徴とする赤外近接場光学用プローブ22。

Claim (excerpt)：

赤外透過性の良好な材質からなる光ファイバの先端部を先鋭化したテーパ化コアと、前記テーパ化コアの表面に、該テーパ化コアの先端部を除いて形成されたマスクと、を備え、前記マスクから外部へ露出した前記テーパ化コアの先端部より、赤外域における、入射光を測定試料に照射、ないし該測定試料からの散乱近接場光を捕捉可能なことを特徴とする赤外近接場光学用プローブ。

IPC (2)：

G01N 13/14 ,  G01B 7/34

FI (2)：

G01N 37/00 E ,  G01B 7/34 Z

F-Term (10)：

2F063AA43 ,  2F063CA09 ,  2F063DA01 ,  2F063DB01 ,  2F063EA16 ,  2F063EA20 ,  2F063EB05 ,  2F063EB23 ,  2F063EB27 ,  2F063JA02

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (11)

• フォトン走査トンネル顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-029819   Applicant：日本分光株式会社
• 分光分析機構を有する原子間力顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-215007   Applicant：トヨタ自動車株式会社
• 顕微鏡の電磁放射線トランスミッタまたは電磁放射線検出装置
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願平8-509211   Applicant：フィッシャー,ウルリヒ
• 光ファイバプローブの製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-176052   Applicant：財団法人神奈川科学技術アカデミー
• エバネッセント波センサ及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-147348   Applicant：チバコーニングダイアグノステイクスコーポレイション
• 特開平3-075501
  
• 微細針状構造の加工方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-155242   Applicant：株式会社荏原製作所
• 走査型近視野光学顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-056585   Applicant：セイコー電子工業株式会社
• 特開昭63-190740
  
• 特開平2-074539
  
• フォトン走査トンネル顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-029818   Applicant：日本分光株式会社

Cited by examiner (14)

• 走査型近視野光学顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-056585   Applicant：セイコー電子工業株式会社
• フォトン走査トンネル顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-029819   Applicant：日本分光株式会社
• フォトン走査トンネル顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-029818   Applicant：日本分光株式会社
• 特開昭63-190740
  
• 特開平2-074539
  
• 分光分析機構を有する原子間力顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-215007   Applicant：トヨタ自動車株式会社
• 顕微鏡の電磁放射線トランスミッタまたは電磁放射線検出装置
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願平8-509211   Applicant：フィッシャー,ウルリヒ
• 光ファイバプローブの製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-176052   Applicant：財団法人神奈川科学技術アカデミー
• エバネッセント波センサ及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-147348   Applicant：チバコーニングダイアグノステイクスコーポレイション
• 特開平3-075501
  
• 特開平3-075501
  
• 微細針状構造の加工方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-155242   Applicant：株式会社荏原製作所
• 特開昭63-190740
  
• 特開平2-074539
  

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• Imaging and local infrared spectroscopy with a near field optical microscope
• Etched chalcogenide fibers for near-field infrared scanning microscopy

Cited by examiner (2)

• Imaging and local infrared spectroscopy with a near field optical microscope
• Etched chalcogenide fibers for near-field infrared scanning microscopy