近接場光学用プローブ

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner： , ,
Agent (1)：岩橋祐司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999154029
Publication number (International publication number)：2001027597
Application date： Jun. 01, 1999
Publication date： Jan. 30, 2001
Summary：

【要約】【課題】本発明は、試料の表面形状の把握と共に、その成分等の解析も行うために、所望の波長域における分光分析も適正に行うことのできる近接場光学用プローブを提供することを目的とする。【解決手段】赤外透過性の良好な材質からなる光ファイバの先端部を先鋭化したテーパ化コア44と、該テーパ化コア44の表面に、該テーパ化コア44の先端部を除いて形成されたマスク46と、を備え、該マスク46から外部へ露出した該テーパ化コア44の先端部48より、赤外域における、入射光を測定試料に照射、ないし該測定試料からの散乱近接場光を捕捉可能なことを特徴とする赤外近接場光学用プローブ22。

Claim (excerpt)：

赤外透過性の良好な材質からなる光ファイバの先端部を先鋭化したテーパ化コアと、前記テーパ化コアの表面に、該テーパ化コアの先端部を除いて形成されたマスクと、を備え、前記マスクから外部へ露出した前記テーパ化コアの先端部より、赤外域における、入射光を測定試料に照射、ないし該測定試料からの散乱近接場光を捕捉可能なことを特徴とする赤外近接場光学用プローブ。

IPC (2)：

G01N 13/14 , G01B 7/34

FI (2)：

G01N 37/00 E , G01B 7/34 Z

F-Term (10)：

2F063AA43 , 2F063CA09 , 2F063DA01 , 2F063DB01 , 2F063EA16 , 2F063EA20 , 2F063EB05 , 2F063EB23 , 2F063EB27 , 2F063JA02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (11)

走査型近視野光学顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-056585 Applicant：セイコー電子工業株式会社
フォトン走査トンネル顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-029819 Applicant：日本分光株式会社
フォトン走査トンネル顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-029818 Applicant：日本分光株式会社

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Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

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