Pat
J-GLOBAL ID:200903028819091290
半導体装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008168841
Publication number (International publication number):2009033145
Application date: Jun. 27, 2008
Publication date: Feb. 12, 2009
Summary:
【課題】大型の半導体装置で、高速に動作する半導体装置を提供することを目的する。【解決手段】単結晶の半導体層を有するトップゲート型のトランジスタと、アモルファスシリコン(またはマイクロクリスタルシリコン)の半導体層を有するボトムゲート型のトランジスタとを同一基板に形成する。そして、各々のトランジスタが有するゲート電極を同じレイヤーで形成し、ソース及びドレイン電極も同じレイヤーで形成する。このようにして、製造工程を削減する。つまり、ボトムゲート型のトランジスタの製造工程に、少しだけ工程を追加するだけで、2つのタイプのトランジスタを製造することが出来る。【選択図】図6
Claim (excerpt):
絶縁基板の上方に第1の半導体層を有し、
前記半導体層の上方に第1の絶縁層を有し、
前記絶縁層の上方に第1および第2の導電層を有し、
前記第1および第2の導電層の上方に第2の絶縁層を有し、
前記第2の絶縁層の上方に第2の半導体層および第3の導電層を有し、
前記第2の半導体層の上方に第4の導電層を有し、
前記第3および第4の導電層の上方に第3の絶縁層を有し、
前記第3の絶縁層の上方に第5の導電層を有し、
前記第1の半導体層は、第1のトランジスタの活性層としての機能を有し、
前記第2の半導体層は、第2のトランジスタの活性層としての機能を有し、
前記第1の半導体層と前記第2の半導体層の特性が異なることを特徴とする半導体装置。
IPC (9):
H01L 29/786
, H01L 21/336
, H01L 21/02
, H01L 27/12
, H01L 27/08
, H01L 21/823
, H01L 27/088
, H01L 27/06
, G02F 1/136
FI (8):
H01L29/78 613Z
, H01L29/78 627D
, H01L29/78 612D
, H01L27/12 B
, H01L27/08 331E
, H01L27/08 102C
, H01L27/06 102A
, G02F1/1368
F-Term (155):
2H092JA26
, 2H092JA28
, 2H092JA46
, 2H092KA03
, 2H092KA05
, 2H092MA17
, 2H092MA28
, 2H092NA05
, 2H092NA21
, 2H092PA11
, 2H092PA12
, 2H092PA13
, 5F048AA09
, 5F048AB03
, 5F048AB04
, 5F048AB10
, 5F048AC01
, 5F048AC10
, 5F048BA14
, 5F048BA15
, 5F048BA16
, 5F048BA19
, 5F048BB01
, 5F048BB08
, 5F048BB09
, 5F048BC06
, 5F048BC15
, 5F048BC18
, 5F048BF01
, 5F048BF02
, 5F048BF04
, 5F048BF05
, 5F048BF06
, 5F048BF07
, 5F048BF11
, 5F048BF16
, 5F048BG07
, 5F110AA04
, 5F110AA16
, 5F110BB02
, 5F110BB03
, 5F110BB04
, 5F110BB11
, 5F110CC02
, 5F110CC05
, 5F110CC07
, 5F110DD01
, 5F110DD02
, 5F110DD03
, 5F110DD05
, 5F110DD07
, 5F110DD13
, 5F110DD14
, 5F110DD15
, 5F110DD17
, 5F110EE01
, 5F110EE02
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, 5F110EE23
, 5F110EE28
, 5F110EE30
, 5F110EE32
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, 5F110FF01
, 5F110FF02
, 5F110FF03
, 5F110FF04
, 5F110FF09
, 5F110FF23
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, 5F110FF28
, 5F110FF29
, 5F110GG01
, 5F110GG02
, 5F110GG03
, 5F110GG04
, 5F110GG05
, 5F110GG12
, 5F110GG13
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, 5F110GG15
, 5F110GG16
, 5F110GG17
, 5F110GG25
, 5F110GG30
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, 5F110GG33
, 5F110GG34
, 5F110GG35
, 5F110GG42
, 5F110GG43
, 5F110GG44
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, 5F110GG47
, 5F110HJ01
, 5F110HK01
, 5F110HK02
, 5F110HK03
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, 5F110HK05
, 5F110HK06
, 5F110HK09
, 5F110HK15
, 5F110HK16
, 5F110HK21
, 5F110HK22
, 5F110HK32
, 5F110HK33
, 5F110HK34
, 5F110HL01
, 5F110HL02
, 5F110HL03
, 5F110HL04
, 5F110HL05
, 5F110HL06
, 5F110HL07
, 5F110HL08
, 5F110HL11
, 5F110HL12
, 5F110HL22
, 5F110HL23
, 5F110HL24
, 5F110HM15
, 5F110NN03
, 5F110NN12
, 5F110NN22
, 5F110NN23
, 5F110NN24
, 5F110NN27
, 5F110NN33
, 5F110NN34
, 5F110NN35
, 5F110NN37
, 5F110NN71
, 5F110NN72
, 5F110NN73
, 5F110NN78
, 5F110PP01
, 5F110PP02
, 5F110PP03
, 5F110PP34
, 5F110QQ01
, 5F110QQ06
, 5F110QQ11
, 5F110QQ17
, 5F110QQ19
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
-
液晶表示装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-132973
Applicant:シャープ株式会社, 株式会社半導体エネルギー研究所
Cited by examiner (5)
-
半導体装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-042978
Applicant:株式会社東芝
-
液晶表示装置用薄膜トランジスタ基板及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-167957
Applicant:三星電子株式会社
-
半導体装置及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-073037
Applicant:富士ゼロックス株式会社
-
薄膜状半導体集積回路
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-301174
Applicant:株式会社半導体エネルギー研究所
-
複数の半導体層を備えた半導体デバイス
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2007-527290
Applicant:フリースケールセミコンダクターインコーポレイテッド
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