質量分析装置および異性体分析方法

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：作田康夫 , 井上学
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004151149
Publication number (International publication number)：2005331421
Application date： May. 21, 2004
Publication date： Dec. 02, 2005
Summary：

【課題】分離手段での分離が困難で、且つMSでも識別不可能な混合化合物においても、その存在比を明らかにする。【解決手段】試料を成分ごとに分離する分離手段から溶出される試料をイオン化し、任意の質量数のイオンを開裂させ、質量分析するMSn 分析を行う質量分析装置において、異性体存在比とマススペクトル内の特定イオン強度比との相関情報が異性体ごとに格納されたデータベースを備えたことである。【効果】光学異性体同士のように分離手段での分離が困難で、MSでも識別不可能な混合試料中の異性体比を明らかにすることができる。【選択図】図10

Claim (excerpt)：

試料を成分ごとに分離する分離手段から溶出される試料をイオン化し、任意の質量数のイオンを開裂させ、質量分析するMSn分析を行う質量分析装置において、複数の化合物の各保持時間情報が記憶された第1のデータベースと、異性体存在比とマススペクトル内の特定イオン強度比との相関情報が異性体ごとに格納された第2のデータベースとを備え、上記各データベースを用いて試料中に異性体が含まれるか否かを判別し、異性体が含まれる場合は、異性体間の存在比を算出することを特徴とする質量分析装置。

IPC (4)：

G01N30/86 , G01N27/62 , G01N30/72 , G01N30/88

FI (7)：

G01N30/86 J , G01N30/86 G , G01N30/86 M , G01N27/62 D , G01N27/62 X , G01N30/72 C , G01N30/88 N

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

質量分析装置のデータ処理装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-242033 Applicant：株式会社島津製作所
質量分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-229531 Applicant：日本電子株式会社
MS/MS質量分析装置用データ処理装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-282814 Applicant：株式会社島津製作所

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Cited by examiner (4)

化学物質の検出方法及び検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-081606 Applicant：三菱重工業株式会社
GC/MSにおける同定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-211018 Applicant：株式会社島津製作所
中性種の解離を用いる電荷逆転質量分析法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-038397 Applicant：日本原子力研究所, 早川滋雄

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