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J-GLOBAL ID:200903031807616585
基板処理装置および基板処理方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
稲岡 耕作
, 川崎 実夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003110684
Publication number (International publication number):2004319708
Application date: Apr. 15, 2003
Publication date: Nov. 11, 2004
Summary:
【課題】基板表面の異物の状況に応じた洗浄処理を行うことによって、高品位な基板洗浄処理を実現できる基板処理装置および基板処理方法を提供する。【解決手段】バッチ洗浄処理部1で複数枚の基板を一括洗浄した後、個々の基板について、異物測定部2において、異物情報が測定される。この測定結果は、記憶装置5に格納される。制御装置4は、異物情報の測定結果に基づいて、所定の合格基準を満たさない基板は、基板搬送機構によって、枚葉洗浄処理部3に搬入させる。それとともに、異物情報の測定結果に基づいて、適切な洗浄工程を設定する。枚葉洗浄処理の後には、再び、基板の異物情報が測定され、合格基準を満たさなければ、その基板には、再度、枚葉洗浄処理部3による処理が行われる。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
基板上の異物の情報を測定する異物情報測定手段と、
この異物情報測定手段によって測定された異物の情報を記憶する異物情報記憶手段と、
この異物情報記憶手段に記憶された異物の情報に基づいて、当該異物の情報に対応した基板洗浄工程を設定する基板洗浄工程設定手段と、
この基板洗浄工程設定手段によって設定された基板洗浄工程に従って、基板を洗浄する基板洗浄手段とを含むことを特徴とする基板処理装置。
IPC (3):
H01L21/304
, B08B3/02
, B08B3/04
FI (5):
H01L21/304 648G
, H01L21/304 642A
, H01L21/304 643A
, B08B3/02 B
, B08B3/04 Z
F-Term (15):
3B201AA02
, 3B201AA03
, 3B201AB01
, 3B201AB03
, 3B201AB34
, 3B201BB02
, 3B201BB22
, 3B201BB82
, 3B201BB83
, 3B201BB93
, 3B201BB96
, 3B201BB99
, 3B201CB11
, 3B201CD42
, 3B201CD43
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
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マスク洗浄機
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-045120
Applicant:山形日本電気株式会社
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基板の洗浄装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-128247
Applicant:株式会社ニコン
-
基板洗浄装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-117810
Applicant:大日本スクリーン製造株式会社
-
ウェハーの洗浄装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-106382
Applicant:株式会社リコー
-
板状ワークの洗浄装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-004522
Applicant:日立電子エンジニアリング株式会社
-
基板洗浄装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-240677
Applicant:大日本スクリーン製造株式会社
-
半導体ウェーハの洗浄装置及び洗浄方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-194846
Applicant:三菱住友シリコン株式会社
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