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J-GLOBAL ID:200903035457966567

発光量子効率測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 小宮 良雄 ,  大西 浩之
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007169556
Publication number (International publication number):2009008509
Application date: Jun. 27, 2007
Publication date: Jan. 15, 2009
Summary:
【課題】強い発光異方性を示す発光体試料の発光を容易かつ確実に等方化して、その発光体試料の発光量子効率を精度よく測定できる発光量子効率測定装置を提供する。 【解決手段】発光量子効率測定装置は、積分球1の中心を含む平面上の直交する方向に、励起光導入窓2と、分光器へつながる検出プローブ端3とを有する発光量子効率測定装置において、該積分球1の内部であって、中心から該平面に対する垂線上に発光体試料5が配置され、該検出プローブ端3から発光体試料5を見通す位置にバッフル板7が置かれている。【選択図】 図2
Claim (excerpt):
積分球の中心を含む平面上の直交する方向に、励起光導入窓と、分光器へつながる検出プローブ端とを有する発光量子効率測定装置において、該積分球の内部であって、中心から該平面に対する垂線上に発光体試料が配置され、該検出プローブ端から発光体試料を見通す位置にバッフル板が置かれていることを特徴とする発光量子効率測定装置。
IPC (2):
G01N 21/64 ,  G01J 3/443
FI (2):
G01N21/64 Z ,  G01J3/443
F-Term (21):
2G020CA01 ,  2G020CB36 ,  2G020CB43 ,  2G020CD04 ,  2G020CD14 ,  2G020CD22 ,  2G020CD37 ,  2G020CD39 ,  2G043DA06 ,  2G043EA01 ,  2G043FA06 ,  2G043GA04 ,  2G043GB03 ,  2G043HA04 ,  2G043HA05 ,  2G043JA01 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G043MA01 ,  2G043NA01 ,  2G043NA13
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (6)
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