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J-GLOBAL ID:200903035565244543
磁性トンネル接合
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
坂口 博
, 市位 嘉宏
, 上野 剛史
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003178747
Publication number (International publication number):2004072090
Application date: Jun. 23, 2003
Publication date: Mar. 04, 2004
Summary:
【課題】保磁力を微調整する自由および相当程度のMRを実現する自由を残しながら製造しうるMTJデバイスおよびそれを備えたメモリ・アレイを提供する。【解決手段】障壁層で分離されたフリー層205と被ピン止め層260を備えた磁気トンネル接合デバイス200を提供する。本発明によると、フリー層205はフェリ磁性層210と反平行層220を備えている。反平行層220の磁化モーメントは磁気トンネル接合デバイス200の少なくとも所定温度内でフェリ磁性層210の磁気モーメントと実質的に反平行をなしている。このような磁気トンネル接合デバイス200を備えたメモリ・アレイも提供する。【選択図】 図2
Claim (excerpt):
フリー層と被ピン止め層とを備えた磁気トンネル接合デバイスであって、
前記フリー層は障壁層によって前記被ピン止め層から分離されており、
前記フリー層は、
フェリ磁性材料を含むフェリ磁性層と、
前記フェリ磁性層に近接した反平行層と
を備え、
前記反平行層の磁気モーメントは前記磁気トンネル接合デバイスの少なくとも所定温度範囲内で前記フェリ磁性層の磁気モーメントと実質的に反平行をなしている
磁気トンネル接合デバイス。
IPC (3):
H01L43/08
, G11C11/15
, H01L27/105
FI (3):
H01L43/08 Z
, G11C11/15 110
, H01L27/10 447
F-Term (3):
5F083FZ10
, 5F083KA01
, 5F083KA05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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磁気抵抗素子、該磁気抵抗素子を用いたメモリ素子及び該メモリ素子の記録再生方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-078472
Applicant:キヤノン株式会社
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磁気抵抗効果素子および磁気抵抗効果記憶素子およびデジタル信号を記憶させる方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-182152
Applicant:松下電器産業株式会社
-
トンネル磁気抵抗効果型ヘッド
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-171869
Applicant:ティーディーケイ株式会社
-
磁気記憶装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-248159
Applicant:株式会社東芝
-
磁電変換素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-076484
Applicant:三菱電機株式会社
-
磁気抵抗効果素子およびそれを用いた磁気メモリ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-001189
Applicant:シャープ株式会社
-
磁気抵抗素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-109571
Applicant:キヤノン株式会社
-
磁気抵抗効果膜を用いたメモリ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-394551
Applicant:キヤノン株式会社
-
書き込み禁止が選択可能な磁気メモリ及びその書き込み方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2003-529477
Applicant:セントレ・ナショナル・デ・ラ・レシェルシェ・サイエンティフィーク
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