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J-GLOBAL ID:200903036593730328

プラズマ・スペクトロメーターにおけるプラズマの状態を監視及び/又は制御する方法、及びそのような方法を実行するスペクトロメーター

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 藤本 英夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001380734
Publication number (International publication number):2002257733
Application date: Nov. 07, 2001
Publication date: Sep. 11, 2002
Summary:
【要約】【課題】 プラズマ・スペクトロメーター、例えば、プラズマ光学放射スペクトロメーター又は原子スペクトロメーター(ICP-OES又はICP-MS)におけるプラズマの状態を監視及び/又は制御する方法、及びそのような方法を実行するスペクトロメーターに関する。【解決手段】 プラズマ・スペクトロメーターにおけるプラズマの状態を監視及び/又は制御する方法であって、ビデオカメラ7を介してプラズマの画像データを獲得し、(a)獲得された画像データからのプラズマの画像をディスプレイ装置10の上に表示し、及び/又は(b)画像データをコンピュータ・ユニット9の中に記憶することを含む。
Claim (excerpt):
プラズマ・スペクトロメーターにおけるプラズマの状態を監視及び/又は制御する方法であって、プラズマの画像データを獲得し、(a)画像データからのプラズマの画像をディスプレイ装置の上に表示し、及び/又は(b)画像データを、測定されたデータと一緒にコンピュータ・ユニットの中に記憶することを含む方法。
IPC (3):
G01N 21/73 ,  G01N 27/62 ,  H05H 1/00
FI (3):
G01N 21/73 ,  G01N 27/62 G ,  H05H 1/00 A
F-Term (9):
2G043AA03 ,  2G043CA01 ,  2G043EA08 ,  2G043FA01 ,  2G043HA15 ,  2G043JA01 ,  2G043LA03 ,  2G043NA05 ,  2G043NA06
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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