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J-GLOBAL ID:200903036593730328
プラズマ・スペクトロメーターにおけるプラズマの状態を監視及び/又は制御する方法、及びそのような方法を実行するスペクトロメーター
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
藤本 英夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001380734
Publication number (International publication number):2002257733
Application date: Nov. 07, 2001
Publication date: Sep. 11, 2002
Summary:
【要約】【課題】 プラズマ・スペクトロメーター、例えば、プラズマ光学放射スペクトロメーター又は原子スペクトロメーター(ICP-OES又はICP-MS)におけるプラズマの状態を監視及び/又は制御する方法、及びそのような方法を実行するスペクトロメーターに関する。【解決手段】 プラズマ・スペクトロメーターにおけるプラズマの状態を監視及び/又は制御する方法であって、ビデオカメラ7を介してプラズマの画像データを獲得し、(a)獲得された画像データからのプラズマの画像をディスプレイ装置10の上に表示し、及び/又は(b)画像データをコンピュータ・ユニット9の中に記憶することを含む。
Claim (excerpt):
プラズマ・スペクトロメーターにおけるプラズマの状態を監視及び/又は制御する方法であって、プラズマの画像データを獲得し、(a)画像データからのプラズマの画像をディスプレイ装置の上に表示し、及び/又は(b)画像データを、測定されたデータと一緒にコンピュータ・ユニットの中に記憶することを含む方法。
IPC (3):
G01N 21/73
, G01N 27/62
, H05H 1/00
FI (3):
G01N 21/73
, G01N 27/62 G
, H05H 1/00 A
F-Term (9):
2G043AA03
, 2G043CA01
, 2G043EA08
, 2G043FA01
, 2G043HA15
, 2G043JA01
, 2G043LA03
, 2G043NA05
, 2G043NA06
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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誘導プラズマ光源からの選択可能な放射を持つスペクトロメータ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-271017
Applicant:ザパーキン-エルマーコーポレイション
-
レーザを用いたガスの直接分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-156243
Applicant:三菱重工業株式会社
-
監視手段を備えた高周波誘導熱プラズマ装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-227515
Applicant:工業技術院長, 東京大学長, 東京電力株式会社, 新日本製鐵株式会社, 日本電子株式会社
-
高周波誘導結合プラズマ発光分光分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-014059
Applicant:セイコーインスツルメンツ株式会社
-
元素分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-204713
Applicant:株式会社日立製作所
-
元素分析装置および元素分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-366333
Applicant:東京電力株式会社, 株式会社東芝
-
分光分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-189862
Applicant:株式会社堀場製作所
-
遠隔測定装置及びその測定方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平9-509827
Applicant:オイラトーム
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