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J-GLOBAL ID：200903038361509741

近接場光学顕微鏡装置

Inventor：
川上 養一

About 川上 養一

, 
岡本 晃一

About 岡本 晃一

, 
金田 昭男

About 金田 昭男

, 
藤田 茂夫

About 藤田 茂夫


Applicant, Patent owner：
関西ティー・エル・オー株式会社

About 関西ティー・エル・オー株式会社


Agent (1)： 西教 圭一郎 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000216432
Publication number (International publication number)：2002031591
Application date： Jul. 17, 2000
Publication date： Jan. 31, 2002
Summary：
【要約】【課題】 励起エリア外の発光を検出することができる近接場光学顕微鏡装置を提供する。【解決手段】 レーザ光源からのレーザ光を光源側光ファイバで試料表面に導き、ファイバ先端の近接場光によって試料の微小領域を励起する。励起された試料表面では、電子、キャリア、励起子が発生し、励起エリアで発光するとともに、発生した電子、キャリア、励起子が励起エリア外に流れ出し、励起エリア外でも発光する。前記光源側光ファイバ先端から離間した位置の試料表面に向けて先端が配置される受光側光ファイバで発光を受光することによって、励起エリアとは異なる位置の試料表面の発光を観測することができる。
Claim (excerpt)：
光源からの光を試料表面に導く光源側導光手段を有し、光源側導光手段先端の近接場光によって試料の微小領域を照射し、照射された試料からの光を受光して試料を観測する近接場光学顕微鏡装置において、前記光源側導光手段先端から、試料表面に沿う方向に離間した位置の試料表面に向けて先端が配置され、試料からの光を導く受光側導光手段を有し、光源側導光手段で照射された位置とは異なる位置からの光を観測可能な近接場光学顕微鏡装置。
IPC (3)：
G01N 13/14 ,  G01N 21/63 ,  G02B 21/06
FI (3)：
G01N 13/14 A ,  G01N 21/63 Z ,  G02B 21/06
F-Term (23)：
2G043AA03 ,  2G043CA05 ,  2G043EA10 ,  2G043FA01 ,  2G043FA03 ,  2G043GA04 ,  2G043GB01 ,  2G043GB03 ,  2G043GB21 ,  2G043HA01 ,  2G043HA05 ,  2G043JA05 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2H052AA00 ,  2H052AB01 ,  2H052AC04 ,  2H052AC26 ,  2H052AC34 ,  2H052AF06 ,  2H052AF07 ,  2H052AF14
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (11)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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