Pat
J-GLOBAL ID:200903040117787890
パターン認識装置およびパターン認識方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
岩橋 文雄
, 坂口 智康
, 内藤 浩樹
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005063309
Publication number (International publication number):2006250536
Application date: Mar. 08, 2005
Publication date: Sep. 21, 2006
Summary:
【課題】認識エラーの少ないパターン認識装置およびパターン認識方法を提供することを目的とする。【解決手段】透明基板に形成された透明電極のパターンを画像認識により検出するパターン認識において、読取画像の輝度分布をヒストグラム24aに表示させ、透明電極のパターン画像に対応する度数集積部25aと透明基板の背景画像に対応する度数集積部25bとを切り分けるための第1の設定値T1,第2の設定値T2を設定する。パターン検出に際しては、第1の設定値T1以上の輝度値を有する画素の輝度値を最大階調値255に変換し第2の設定値T2以下の輝度値を有する画素の輝度値を最小階調値0に変換した明るさ補正画像を対象として、パターンマッチングを行う。これにより、認識対象の読取画像中の画像ノイズや異物による影響を排除して、安定した認識を行うことができる。【選択図】図3
Claim (excerpt):
透明電極が形成された透明基板をカメラで撮像することにより前記透明電極のパターンを認識するパターン認識装置であって、
前記カメラにより撮像された画像の画像データを読み取る画像読取処理部と、前記画像読取処理部によって読み取られた画像を記憶する読取画像記憶部と、予め設定され設定値記憶部に記憶された第1の設定値および第2の設定値に基づき前記画像記憶部に記憶された画像を対象として明るさ補正処理を行う明るさ補正処理部と、明るさ補正処理が行われた補正画像を記憶する補正画像記憶部と、前記補正画像を対象として前記透明電極のパターンを検出するパターン検出処理部とを備え、
前記明るさ補正処理部は、前記明るさ補正処理の対象となる画像において前記透明電極に対応する画素の輝度の下限値に基づいて設定された前記第1の設定値よりも高輝度の画素の輝度値を前記第1の設定値よりも高輝度に設定された第1の補正値以上の輝度値に変換し、前記画像において前記透明基板に対応する画素の輝度の上限値に基づいて設定された前記第2の設定値よりも低輝度の画素の輝度値を前記第2の設定値よりも低輝度に設定された第2の補正値以下の輝度値に変換することを特徴とするパターン認識装置。
IPC (3):
G01N 21/956
, G06T 5/00
, H05K 13/04
FI (3):
G01N21/956 Z
, G06T5/00 100
, H05K13/04 M
F-Term (43):
2G051AA42
, 2G051AA65
, 2G051AB02
, 2G051BB01
, 2G051CA04
, 2G051CB01
, 2G051EA11
, 2G051EA14
, 2G051EA16
, 2G051EA24
, 2G051EB01
, 2G051EB02
, 2G051EC02
, 2G051ED03
, 2G051ED04
, 2G051ED11
, 5B057AA02
, 5B057BA02
, 5B057BA29
, 5B057CA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB02
, 5B057CB08
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CC01
, 5B057CE11
, 5B057DA07
, 5B057DB02
, 5B057DB05
, 5B057DB09
, 5B057DC23
, 5B057DC32
, 5E313AA02
, 5E313AA11
, 5E313CC04
, 5E313EE03
, 5E313EE05
, 5E313FF21
, 5E313FF33
, 5E313FF40
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (11)
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特開平4-58217号公報
-
基板の欠陥検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-055543
Applicant:株式会社小松製作所
-
特開平4-343180
-
画像処理装置及び画像処理方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-021184
Applicant:三菱電機株式会社
-
エンボステープのカバーテープ検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-106392
Applicant:新日本無線株式会社
-
欠陥検査装置、欠陥検査方法およびプログラム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-294851
Applicant:大日本スクリーン製造株式会社
-
パターン検査方法及びパターン検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-100151
Applicant:日本アビオニクス株式会社
-
物品認識装置及び方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-391176
Applicant:アイシン・エィ・ダブリュ株式会社
-
異物検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-382344
Applicant:株式会社島津製作所
-
パターン検査装置、パターン検査方法およびプログラム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-170109
Applicant:大日本スクリーン製造株式会社
-
透明基板の位置合わせ方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-123144
Applicant:カシオ計算機株式会社
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基板の欠陥検査装置
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特開平4-343180
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Applicant:アイシン・エィ・ダブリュ株式会社
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