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J-GLOBAL ID:200903043456953251
GaN単結晶基板、窒化物系半導体エピタキシャル基板、窒化物系半導体素子及びその製造方法
Inventor:
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,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (1):
長谷川 芳樹 (外4名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002137722
Publication number (International publication number):2003327497
Application date: May. 13, 2002
Publication date: Nov. 19, 2003
Summary:
【要約】【課題】 表面が平坦であるGaN単結晶基板、窒化物系半導体エピタキシャル基板、窒化物系半導体素子及びその製造方法を提供する。【解決手段】 本発明に係るGaN単結晶基板11は、研磨された表面が、少なくともNH3ガスを含む混合ガス雰囲気中、基板温度1020°C以上で10分以上熱処理されている。したがって、このGaN単結晶基板11においては、研磨により微細な欠陥が多数形成された基板11表面において、原子再配列がおこなわれ、基板11表面が平坦化されている。それにより、この基板11上に形成するエピタキシャル層12の表面を平坦にすることが可能である。
Claim (excerpt):
研磨された表面が、少なくともNH3ガスを含む混合ガス雰囲気中、基板温度1020°C以上で10分以上熱処理されて、前記表面が平坦化されていることを特徴とするGaN単結晶基板。
IPC (4):
C30B 29/38
, H01L 21/205
, H01L 33/00
, H01S 5/323 610
FI (4):
C30B 29/38 D
, H01L 21/205
, H01L 33/00 C
, H01S 5/323 610
F-Term (39):
4G077AA03
, 4G077AB08
, 4G077BE11
, 4G077DA05
, 4G077DB05
, 4G077DB08
, 4G077EE01
, 4G077SC05
, 4G077TB03
, 4G077TB05
, 4G077TC16
, 4G077TC19
, 4G077TK04
, 5F041AA40
, 5F041AA44
, 5F041CA04
, 5F041CA34
, 5F041CA40
, 5F041CA65
, 5F041CA73
, 5F041FF01
, 5F041FF11
, 5F045AA04
, 5F045AA05
, 5F045AB17
, 5F045AB18
, 5F045CA10
, 5F045CA12
, 5F045DP03
, 5F045DQ10
, 5F045GH03
, 5F045HA01
, 5F073BA05
, 5F073BA09
, 5F073CA07
, 5F073CB02
, 5F073DA05
, 5F073DA16
, 5F073EA28
Patent cited by the Patent: