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J-GLOBAL ID：200903045166734605

水素に起因する損傷及び腐食減肉現象の検査方法

Inventor：
岡 正明

About 岡 正明

, 
豊嶋 崇

About 豊嶋 崇


Applicant, Patent owner：
住重試験検査株式会社

About 住重試験検査株式会社


Agent (2)： 山内 康伸 ,  中井 博
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006093415
Publication number (International publication number)：2007271267
Application date： Mar. 30, 2006
Publication date： Oct. 18, 2007
Summary：
【課題】各種石油プラントにおける機器・配管等の耐圧部材に腐食が生じている場合でも、HICやHA等の水素に起因する損傷を検出することができ、HICやHAによる機器等を構成する鋼材の損傷を正確に検出することができる水素に起因する損傷及び腐食減肉現象の検査方法を提供する。【解決手段】検査対象Iに対して超音波UWを供給し、検査対象Iの厚さ方向における超音波UWの集束位置を変化させながら検査対象I内の欠陥を検出する検査方法であって、超音波UWの集束位置を検査対象Iの表面に沿った方向にも移動させ、検査対象Iにおいて反射される超音波UWの反射波を検出し、各集束位置で検出された全反射波に基づいて、検査対象I内における反射波のエコー高さの分布を示したエコー高さ分布を形成し、エコー高さ分布における所定の値以上の強度を有する欠陥領域の分布に基づいて水素誘起割れや水素侵食等の水素に起因する損傷を判別する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
検査対象に対して該検査対象内における所定の位置で集束する超音波を供給し、該検査対象の厚さ方向における超音波の集束位置を変化させながら検査対象の欠陥を検出する検査方法であって、 超音波の集束位置を検査対象の表面に沿った方向にも移動させ、 検査対象において反射される超音波の反射波を検出し、 各集束位置で検出された全反射波に基づいて、検査対象内における反射波のエコー高さの分布を示したエコー高さ分布を形成し、 エコー高さ分布における所定の値以上の強度を有する欠陥領域の分布に基づいて水素に起因する損傷を判別する ことを特徴とする水素に起因する損傷及び腐食減肉現象の検査方法。
IPC (3)：
G01N 29/04 ,  G01N 29/24 ,  G01N 29/44
FI (3)：
G01N29/10 502 ,  G01N29/24 502 ,  G01N29/22 504
F-Term (25)：
2G047AB01 ,  2G047AC05 ,  2G047BA03 ,  2G047BB01 ,  2G047BB02 ,  2G047BB04 ,  2G047BC03 ,  2G047BC07 ,  2G047BC11 ,  2G047CA01 ,  2G047DA01 ,  2G047DA02 ,  2G047DA03 ,  2G047DB02 ,  2G047DB04 ,  2G047DB12 ,  2G047EA08 ,  2G047EA10 ,  2G047GB02 ,  2G047GF15 ,  2G047GF18 ,  2G047GG06 ,  2G047GG20 ,  2G047GG27 ,  2G047GH13
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (13)
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Cited by examiner (12)
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