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J-GLOBAL ID:200903052355034270
液晶用カラーフィルタ色ムラ検査システム
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
絹谷 信雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996107977
Publication number (International publication number):1997292307
Application date: Apr. 26, 1996
Publication date: Nov. 11, 1997
Summary:
【要約】【課題】 色ムラ検出を高速に行える液晶用カラーフィルタ色ムラ検査システムを提供する。【解決手段】 液晶用カラーフィルタの一方から光を当て他方に配置したラインセンサ20でこれを検出してカラーフィルタの色ムラを検出する液晶用カラーフィルタ色ムラ検査システムにおいて、ラインセンサ20の各画素から順次出力される各画素データ13を遅延回路30を通してパイプライン処理にて順次加算すると共に絵素10に対応した画素データの画像圧縮データを3組作成し、この3組の画像圧縮データより各絵素10の輝度データSを求めて色ムラを検出するこものである。
Claim (excerpt):
液晶用カラーフィルタの一方から光を当て他方に配置したラインセンサでこれを検出してカラーフィルタの色ムラを検出する液晶用カラーフィルタ色ムラ検査システムにおいて、ラインセンサの各画素から順次出力される各画素データを遅延回路を通してパイプライン処理にて順次加算すると共に絵素に対応した画素データの画像圧縮データを3組作成し、この3組の画像圧縮データより各絵素の輝度データを求めて色ムラを検出することを特徴とする液晶用カラーフィルタ色ムラ検査システム。
IPC (2):
FI (2):
G01M 11/00 T
, G01N 21/88 D
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (7)
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光学式液晶カラーディスプレイ欠陥検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-169555
Applicant:エヌティエヌ株式会社
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液晶パネル画質検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-329982
Applicant:株式会社アドバンテスト
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特開平4-036880
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周期構造物体の欠陥検出方法および欠陥検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-307366
Applicant:日本板硝子株式会社
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周期性パターンの欠陥検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-245122
Applicant:大日本印刷株式会社
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カラーフィルタ検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-266557
Applicant:石川島播磨重工業株式会社
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カラーフィルタの輝度検出方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-250725
Applicant:石川島播磨重工業株式会社
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