試料保持体、試料検査装置及び試料検査方法、並びに試料保持体の製造方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007112570
Publication number (International publication number)：2008210765
Application date： Apr. 23, 2007
Publication date： Sep. 11, 2008
Summary：

【課題】培養された細胞等からなる試料の観察又は検査を良好に行うことのできる試料保持体、試料検査装置及び試料検査方法、並びに試料保持体の製造方法を提供する。【解決手段】試料保持体40は、開放された試料保持面37aの少なくとも一部が膜32により構成され、膜32の試料保持面37aにおいて培養された試料38に、膜32を介して、試料観察又は検査のための一次線が照射可能となっている。これにより、細胞等の試料38を培養させた状態で生きたままでの観察又は検査を良好に行うことができる。特に、一次線として電子線を用いれば、生きた状態での試料のSEM観察・検査を良好に行うことができる。さらに、試料保持面37aは開放されているので、マニピュレータによる試料へのアクセス(接触又は接近)が可能となり、マニピュレータを用いて試料38への刺激を行い、その反応を観察・検査することも可能になる。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

開放された試料保持面の少なくとも一部が膜により構成され、該膜の試料保持面において培養された試料に、該膜を介して、試料観察又は検査のための一次線が照射可能であることを特徴とする試料保持体。

IPC (2)：

H01J 37/20 , G01N 23/225

FI (2)：

H01J37/20 A , G01N23/225

F-Term (17)：

2G001AA03 , 2G001BA05 , 2G001BA07 , 2G001BA15 , 2G001CA01 , 2G001CA03 , 2G001CA07 , 2G001GA01 , 2G001GA06 , 2G001HA13 , 2G001JA14 , 2G001KA01 , 2G001LA01 , 2G001QA01 , 2G001QA10 , 5C001BB07 , 5C001CC04

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (8)

走査型電子顕微鏡を用いた非真空環境内のサンプルの検査のための装置および方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2002-547196 Applicant：エダリサーチアンドディベロップメントカンパニー,リミティド, エル-マルテクノロジーズリミティド
特開昭47-24961号公報
電子顕微鏡等の試料ホルダ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-005828 Applicant：株式会社蛋白工学研究所, 日本電子株式会社