チャンバー開放型蛍光X線分析装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：坂上正明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001048261
Publication number (International publication number)：2001349852
Application date： Feb. 23, 2001
Publication date： Dec. 21, 2001
Summary：

【要約】【課題】チャンバー開放型蛍光X線分析装置において、試料中の軽元素の安定な定性・定量分析を可能とする。【解決手段】開放型チャンバーにヘリウム挿入口、開放部に軽元素フィルム着脱機構、チャンバー内気体出口を設け、ヘリウムガスを流し込むことによって、チャンバー内をX線吸収率の小さいヘリウムガス濃度の高い安定な状態に置換した。

Claim (excerpt)：

X線源とX線検出器と開放型チャンバーを有する蛍光X線分析装置において、前記開放型チャンバーにチャンバー内気体置換用のヘリウム挿入口と、前記開放型チャンバーの当該開放部分にX線の透過率が高い軽元素フィルム着脱機構と、チャンバー内気体出口を設けたことを特徴とするチャンバー開放型蛍光X線分析装置。

F-Term (14)：

2G001AA01 , 2G001BA04 , 2G001CA01 , 2G001EA06 , 2G001GA01 , 2G001KA01 , 2G001NA06 , 2G001NA16 , 2G001NA17 , 2G001PA07 , 2G001PA30 , 2G001SA02 , 2G001SA29 , 2G001SA30

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

スラグ分析方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-057457 Applicant：川崎製鉄株式会社
蛍光X線分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-297178 Applicant：株式会社堀場製作所
蛍光X線分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-052470 Applicant：株式会社島津製作所

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Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

可搬型蛍光X線分析計の利用

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