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J-GLOBAL ID:200903054128409457

ひび割れ画像計測による構造物の損傷度評価システム及び方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 久寶 聡博
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001219418
Publication number (International publication number):2003035528
Application date: Jul. 19, 2001
Publication date: Feb. 07, 2003
Summary:
【要約】【目的】RC構造物表面に生じているひび割れに基づいて該RC構造物の損傷度を信頼性のある形で客観的かつ定量的に評価する。【構成】本発明に係るひび割れ画像計測による構造物の損傷度評価システム31は、撮像手段としてのデジタルカメラ32と、該デジタルカメラで得られた画像データを画像処理してひび割れを抽出する画像処理部33と、該画像処理部で得られた画像を処理して所定の演算処理を行う演算処理部34とから概ね構成してある。
Claim (excerpt):
ひび割れ計測の対象となる構造物の表面を撮像する撮像手段と、該撮像手段で得られた画像データを画像処理してひび割れを抽出する画像処理部と、該画像処理部における画像処理によって前記ひび割れの位置、数、幅、角度、長さ、間隔等のひび割れ属性データを分析取得するとともに該ひび割れ属性データを用いて前記構造物の損傷度を評価するようになっている演算処理部とを備えたことを特徴とするひび割れ画像計測による構造物の損傷度評価システム。
F-Term (10):
2F065AA49 ,  2F065AA61 ,  2F065CC14 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ32 ,  2F065RR05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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