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J-GLOBAL ID:200903054393111630
加熱装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (7):
志賀 正武
, 高橋 詔男
, 渡邊 隆
, 青山 正和
, 鈴木 三義
, 西 和哉
, 村山 靖彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004080843
Publication number (International publication number):2005268624
Application date: Mar. 19, 2004
Publication date: Sep. 29, 2005
Summary:
【課題】 マイクロ波を用いて、試料を効率よく、均一に加熱することができる加熱装置を提供する。 【解決手段】 本発明の加熱装置10は、試料Wを加熱処理する容器11と、該容器11内に配設されて試料Wを載置する一主面を備えた試料台17と、該試料台17の他の一主面側かつ前記容器11の外側に設けられたマイクロ波放射部25と、前記容器11外に設けられたマイクロ波発生器21と、一方の端部が前記マイクロ波発生器21に接続され、かつ、他方の端部が前記マイクロ波放射部25に接続されている導波管24とを備え、前記マイクロ波放射部25は、厚み方向に貫通する複数の貫通孔26が形成された板状体27を備えることにより、試料台17が均一に加熱され、その結果、試料台17に載置された試料Wが効率よく、均一に加熱される。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
マイクロ波を用いて試料を加熱する加熱装置であって、
試料を加熱処理する容器と、該容器内に配設されて試料を載置する一主面を備えた試料台と、該試料台の他の一主面側かつ前記容器の外側に設けられたマイクロ波放射部と、前記容器外に設けられたマイクロ波発生器と、一方の端部が前記マイクロ波発生器に接続され、かつ、他方の端部が前記マイクロ波放射部に接続されている導波管とを備え、
前記マイクロ波放射部は、厚み方向に貫通する複数の貫通孔が形成された板状体を備えていることを特徴とする加熱装置。
IPC (5):
H01L21/268
, H01L21/68
, H05B6/70
, H05B6/72
, H05B6/74
FI (6):
H01L21/268 Z
, H01L21/68 N
, H05B6/70 E
, H05B6/72 D
, H05B6/74 A
, H05B6/74 E
F-Term (13):
3K090AA01
, 3K090AB13
, 3K090AB20
, 3K090BA01
, 3K090BB01
, 3K090CA02
, 3K090CA09
, 3K090DA03
, 3K090EA09
, 5F031CA02
, 5F031HA02
, 5F031MA30
, 5F031PA11
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (7)
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マイクロ波加熱型の半導体製造用サセプタおよび半導体製造装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-251929
Applicant:東芝セラミックス株式会社
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特開昭51-076650
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プラズマ処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-248767
Applicant:東京エレクトロン株式会社
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特開昭63-279595
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アニール装置及びアニール方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-183048
Applicant:有限会社真空実験室
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イオンビーム照射装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-158772
Applicant:日新電機株式会社
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組み合わされたイオンビームおよびマイクロ波照射手段および方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-114254
Applicant:モトローラ・セミコンダクトゥール・ソシエテアノニム
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