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J-GLOBAL ID：200903055351633900

超音波探傷装置および超音波探傷方法

Inventor：
土屋 憲一郎

About 土屋 憲一郎


Applicant, Patent owner：
JFE工建株式会社

About JFE工建株式会社


Agent (1)： 石川 泰男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006112290
Publication number (International publication number)：2007285813
Application date： Apr. 14, 2006
Publication date： Nov. 01, 2007
Summary：
【課題】溶接部及びその近傍に存在する様々な欠陥を確実、かつ、効率的に探傷する。【解決手段】2つの部材が相互に交差して、一方の部材の端縁が他方の部材の一面に突き合わされて溶接された部位を探傷するに当たり、クリーピング探傷、TOFD探傷及び端部エコー探傷を同時に実行する。この際、探触子11,12を各部材に接触させて、第1探触子11から超音波を入射させ、戻された超音波を第1探触子11で受信せしめてクリーピング探傷し、一方の探触子11から超音波を入射し他方の探触子12でこれを受信してTOFD探傷する。さらに、第2探触子12から超音波を入射させ、再度第2探触子12で受信せしめて端部エコー探傷する。この際に使用する超音波をすべて疎密波とする。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
第1部材の一面に第2部材の端縁が突き合わされて両者が溶接された接合部である被検査部に超音波を入射せしめて欠陥を探傷する超音波探傷装置であって、 第1部材の前記一面に接触される第1探触子と、 第2部材における前記第1探触子の配置された側の面に接触される第2探触子と、 第1探触子及び第2探触子の双方に接続されて、第1探触子及び第2探触子に対して超音波を発信せしめる信号を送信する発信部と、 第1探触子及び第2探触子の双方に接続されて、第1探触子及び第2探触子が受信した超音波を受信信号に変換する受信部と、 前記発信部及び前記受信部の作動を制御する制御部とを備え、 前記制御部には、前記第1探触子から超音波を入射させ、前記被検査部を伝播して前記第1探触子に戻された超音波をこの第1探触子で受信せしめてクリーピング探傷するよう前記発信部及び前記受信部を制御するクリーピング探傷制御手段と、 前記第1探触子又は前記第2探触子の一方の探触子から超音波を入射せさせ、前記被検査部を伝播した超音波を他方の探触子で受信せしめてTOFD探傷するよう前記発信部及び前記受信部を制御するTOFD探傷制御手段と、 前記第2探触子から超音波を入射させ、前記被検査部を伝播してから戻された超音波をこの第2探触子で受信せしめて端部エコー探傷するよう前記発信部及び前記受信部を制御する端部エコー探傷制御手段と、 前記制御部に対して、クリーピング探傷制御手段、TOFD探傷制御手段、又は端部エコー探傷制御手段の中から少なくとも一つを作動させるよう制御の選択をさせる制御選択手段と、を備え、 クリーピング探傷、TOFD探傷、及び端部エコー探傷のいずれについても、前記超音波として疎密波を使用することを特徴とする超音波探傷装置。
IPC (1)：
G01N 29/04
FI (1)：
G01N29/10 505
F-Term (7)：
2G047AA07 ,  2G047AB07 ,  2G047BC07 ,  2G047GA13 ,  2G047GA19 ,  2G047GG19 ,  2G047GJ02
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • 非破壊検査方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-403395   Applicant：JFE工建株式会社
Cited by examiner (7)
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