微少質量検出チップ

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005051799
Publication number (International publication number)：2006234687
Application date： Feb. 25, 2005
Publication date： Sep. 07, 2006
Summary：

【課題】励振電極上にリガンドを形成し、その上で発生する反応の状態を、質量の変化として検出する集積型微少質量検出チップの引き出し電極に関するもので、極少量の試料においても精度良くリアルタイムにDNAの検査ができるようにすることを目的とする。【解決手段】課題を解決するために、圧電単結晶基板の表裏面に所定の間隔でそれぞれ分離した複数の凹部を備え、前記圧電単結晶基板の凹部の表裏に励振電極を形成し、一方面の電極を反応電極としそれぞれの反応側電極上に反応状態を捉えるリガンドを形成し、形成された励振電極の引き出し電極の一方を、前記チップの主面にスルーホ-ルを形成しスルーホールを介して対面側に引き出し、前記引き出した側の該圧電単結晶基板面に、温度制御手段を備えることで目的を達成する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

圧電単結晶基板の表裏面に所定の間隔でそれぞれ分離した複数の凹部を備え、前記圧電単結晶基板の凹部の表裏に励振電極を形成し、一方面の電極を反応電極としそれぞれの該反応側電極上に反応状態を捉えるリガンドを形成し、形成された励振電極の引き出し電極の一方を、微少質量検出チップの主面にスルーホ-ルを形成し前記スルーホールを介して対面側に引き出し、前記引き出した側の該圧電単結晶基板面に、温度制御手段を備えたことを特徴とする微少質量検出チップ。

IPC (3)：

G01N 5/02 , G01N 33/53 , G01N 37/00

FI (4)：

G01N5/02 A , G01N33/53 M , G01N37/00 101 , G01N37/00 102

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

DNAチップおよびDNA検査方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-285845 Applicant：キンセキ株式会社

Cited by examiner (9)

DNAチップおよびDNA検査方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-285845 Applicant：キンセキ株式会社
微少質量測定装置、微少質量測定システムおよび電極取り出し方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-114314 Applicant：キヤノン株式会社
マルチチャンネルQCMセンサデバイス
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-089410 Applicant：小山昇, 株式会社明電舎

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