QCM装置及び試料測定方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：長瀬成城
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002376039
Publication number (International publication number)：2004205392
Application date： Dec. 26, 2002
Publication date： Jul. 22, 2004
Summary：

【課題】第1容器の時間経過に伴う周波数変化と、試料の入った側の第2容器の周波数変化とを同時に比較し、その差分を排除する等測定系の外から入る多様なノイズを取り除いて、精度のよい測定をすることができるQCM装置を提供する【解決手段】第1水晶振動子センサー2と、第2水晶振動子センサー3は、共に、振動子である電極4、5と、溶媒を収容する第1容器6、第2容器7を備え、一対にして支持台1に支持されるものである。第1水晶振動子センサー2と、第2水晶振動子センサー3は、温度調節装置8及びコンピュータ9、表示装置10に連結されている。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

支持台に支持された、第1水晶振動子センサーと、第2水晶振動子センサーとからなるQCM装置。

IPC (1)：

G01N5/02

FI (1)：

G01N5/02 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (13)

分解ガス検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-053693 Applicant：株式会社東芝
液相表面処理装置およびこれを用いた被処理体の質量変化計測方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-303750 Applicant：株式会社リコー
マルチチャンネルQCMセンサデバイス
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-089410 Applicant：小山昇, 株式会社明電舎

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