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J-GLOBAL ID:200903060376438684

パラレルメカニズム装置、パラレルメカニズム装置のキャリブレーション方法、キャリブレーションプログラム、及び記録媒体

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 小谷 悦司 ,  伊藤 孝夫 ,  樋口 次郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005322294
Publication number (International publication number):2007140575
Application date: Nov. 07, 2005
Publication date: Jun. 07, 2007
Summary:
【課題】既知の位置に位置決めしてエンドエフェクタの絶対位置を規定するデータを取得し、微小運動学を用いず、運動学を記述する関係式を直接用いることにより、機構パラメータを正確に同定する。【解決手段】取得部114は、パラレルメカニズム工作機械1の基準座標系6とすべく当該パラレルメカニズム工作機械1の機械テーブル3上に予め設定された基準座標系6におけるエンドエフェクタ20の位置座標及び姿勢角度座標の全部又は一部と、当該位置座標及び姿勢角度座標の全部又は一部とから逆運動学を用いて算出された駆動軸座標とを所定の測定方法を用いることにより取得する。算出部113は、これらの座標を用いて、パラレルメカニズム機構4の順運動学及び逆運動学のいずれか一方の運動学を記述する関係式を直接用いることにより機構パラメータを算出する。【選択図】図2
Claim (excerpt):
所定の架台に支持されたベースと、 エンドエフェクタと、 複数の駆動軸を含み、前記ベースに前記エンドエフェクタを保持するパラレルリンク機構と、 で構成されるパラレルメカニズム機構と、 前記パラレルメカニズム機構の運動学に基づいて前記駆動軸を駆動することで、前記エンドエフェクタの位置及び姿勢を制御する数値制御装置と、 を少なくとも備えたパラレルメカニズム装置であって、 前記パラレルメカニズム機構の外部に予め設定された基準座標系において、前記エンドエフェクタと主軸を一致させて取り付けられた調整用工具を所定の測定方法に基づいて既知の位置に位置決めする位置決め手段と、 前記位置決め手段により前記調整用工具が位置決めされたときに、当該位置決め手段で用いられた測定方法を指定する測定方法選択コードに応じた形式を有するデータであって、前記パラレルメカニズム機構の運動学に必要な機構パラメータと前記基準座標系との相関関係を規定するデータである取得データを取得する取得手段と、 前記取得データを用いて、前記パラレルメカニズム機構の順運動学を記述する関係式を直接用いることにより少なくとも前記機構パラメータを算出する算出手段と、 を備えることを特徴とするパラレルメカニズム装置。
IPC (3):
G05B 19/18 ,  B25J 11/00 ,  B25J 9/22
FI (3):
G05B19/18 C ,  B25J11/00 D ,  B25J9/22 Z
F-Term (13):
3C007BS24 ,  3C007KS17 ,  3C007KS19 ,  3C007KS20 ,  3C007LT17 ,  5H269AB01 ,  5H269AB33 ,  5H269BB03 ,  5H269BB16 ,  5H269EE03 ,  5H269EE05 ,  5H269EE29 ,  5H269FF02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2) Cited by examiner (3)

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