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J-GLOBAL ID：200903064022043394

浮遊粒子状物質の測定装置

Inventor：
紀本 岳志

About 紀本 岳志


Applicant, Patent owner：
紀本電子工業株式会社

About 紀本電子工業株式会社


Agent (1)： 西教 圭一郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007104262
Publication number (International publication number)：2008261712
Application date： Apr. 11, 2007
Publication date： Oct. 30, 2008
Summary：
【課題】 大気中の浮遊粒子状物質を構成する元素種類を連続自動的に分析する装置を提供する。【解決手段】 分級器2によって粒径2.5μmを超える粗大粒子CPの全量を含む空気と、PM2.5以下の微小粒子FPを含む空気とに分級し、分級された空気中の浮遊粒子状物質をフィルタ3の第1および第2の位置3a,3bに捕集する。これらを各別に蛍光X線分析器13によって元素分析する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
一定流量の試料大気を吸引し、試料大気を粗大粒子の全てを含む空気と、微小粒子のみを含む空気とに浮遊粒子状物質を分級し、テープ状フィルタに連続的に浮遊粒子状物質を捕集し、捕集した粗大粒子と微小粒子のうち少なくともいずれか一方をX線蛍光分析法によって測定することで、浮遊粒子状物質中の元素分析を行うことを特徴とする浮遊粒子状物質の測定装置。
IPC (6)：
G01N 15/02 ,  G01N 15/10 ,  G01N 23/223 ,  G01N 1/02 ,  B01D 46/18 ,  B07B 7/00
FI (6)：
G01N15/02 F ,  G01N15/10 A ,  G01N23/223 ,  G01N1/02 G ,  B01D46/18 B ,  B07B7/00 Z
F-Term (35)：
2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001GA01 ,  2G001KA01 ,  2G001LA02 ,  2G001MA04 ,  2G001NA04 ,  2G001NA05 ,  2G001NA06 ,  2G001NA07 ,  2G001NA08 ,  2G001NA09 ,  2G001NA10 ,  2G001NA11 ,  2G001NA13 ,  2G001NA17 ,  2G001PA01 ,  2G001PA11 ,  2G052AA01 ,  2G052AB01 ,  2G052AC02 ,  2G052AD04 ,  2G052AD24 ,  2G052AD55 ,  2G052BA05 ,  2G052EA03 ,  2G052GA19 ,  4D021FA14 ,  4D021GA06 ,  4D021HA10 ,  4D058JA24 ,  4D058JB14 ,  4D058KD10 ,  4D058SA20
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (5)
  • 粒子状物質分析装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-371486   Applicant：株式会社堀場製作所
  • 粉塵分析システム
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-164263   Applicant：理学電機工業株式会社
  • 全反射蛍光X線分析装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-043275   Applicant：株式会社テクノス研究所
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