Pat
J-GLOBAL ID:200903064391357173

エッチング特性が異なる誘電体層を用いてデュアルダマシンにより形成される配線

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長谷川 芳樹 (外2名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2000565566
Publication number (International publication number):2002522923
Application date: Aug. 09, 1999
Publication date: Jul. 23, 2002
Summary:
【要約】本発明により、エッチング特性が異なる連続した誘電体層(314および316)にデュアルダマシン構造(332および334)を形成する集積回路製造方法およびデバイスが提供される。また、本発明により、これらの誘電体層が異なる誘電率を有する方法およびデバイスが提供される。本発明のさらなる実施形態には、放射に露光されると、ハードマスク(622)を形成するシリコン系感光材料などの単層マスクの使用が含まれる。さらなる実施形態では、IC構造を製造するための製造システム(710)が提供される。これらのシステムには、複数の製造ステーション(720、722、724、726、728、730)と相互作用し得るコントローラ(700)が含まれる。
Claim (excerpt):
基板上に構造を形成する方法であって、 a)前記基板上に第1の誘電体層を堆積すること; b)前記第1の誘電体層上に、前記第1の誘電体層とエッチング特性が異なる材料を備える第2の誘電体層を堆積すること; c)前記第2の誘電体層上にバイアパターンをもつ第1のエッチングマスクを堆積すること; d)第1のエッチング手順において前記第1および第2の誘電体層を通してバイアパターンを異方的にエッチングすることにより、第1の誘電体層にバイアホールを形成すること; e)前記第1のエッチングマスクを除去すること; f)第2のエッチング手順において下地バイアホール上の第2の誘電体層にトレンチを異方的にエッチングすることにより、トレンチおよびバイアホールがデュアルダマシン構造を製造するように適応させることを含む方法。
IPC (5):
H01L 21/768 ,  H01L 21/28 ,  H01L 21/3065 ,  H01L 39/06 ,  H01L 39/24 ZAA
FI (5):
H01L 21/28 L ,  H01L 39/06 ,  H01L 39/24 ZAA B ,  H01L 21/90 C ,  H01L 21/302 H
F-Term (63):
4M104AA01 ,  4M104AA02 ,  4M104AA04 ,  4M104AA05 ,  4M104BB02 ,  4M104BB04 ,  4M104BB08 ,  4M104BB18 ,  4M104BB36 ,  4M104CC01 ,  4M104DD08 ,  4M104DD16 ,  4M104DD20 ,  4M104EE12 ,  4M104HH20 ,  4M113AD51 ,  4M113BA04 ,  4M113BA15 ,  4M113BA23 ,  4M113CA01 ,  4M113CA34 ,  5F004DA00 ,  5F004DA04 ,  5F004EA04 ,  5F004EB02 ,  5F033GG02 ,  5F033HH08 ,  5F033HH11 ,  5F033HH14 ,  5F033HH19 ,  5F033HH40 ,  5F033JJ01 ,  5F033JJ08 ,  5F033JJ11 ,  5F033JJ14 ,  5F033JJ19 ,  5F033JJ40 ,  5F033KK03 ,  5F033MM02 ,  5F033MM13 ,  5F033NN07 ,  5F033PP06 ,  5F033PP14 ,  5F033PP27 ,  5F033PP28 ,  5F033QQ09 ,  5F033QQ10 ,  5F033QQ11 ,  5F033QQ16 ,  5F033QQ21 ,  5F033QQ25 ,  5F033QQ26 ,  5F033QQ31 ,  5F033QQ35 ,  5F033QQ37 ,  5F033QQ48 ,  5F033RR04 ,  5F033RR11 ,  5F033RR21 ,  5F033SS15 ,  5F033WW09 ,  5F033XX03 ,  5F033XX24
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
Show all

Return to Previous Page