Pat

J-GLOBAL ID：200903065492913685

光コヒーレンストモグラフィー装置および計測ヘッド

Inventor： 田村 雅巳
Applicant, Patent owner： 株式会社松風
Agent (1)： 特許業務法人池内・佐藤アンドパートナーズ
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004319937
Publication number (International publication number)：2006132995
Application date： Nov. 02, 2004
Publication date： May. 25, 2006
Summary：

【課題】 構造が簡単で、高速で撮像できる光コヒーレンストモグラフィー装置を提供することを目的とする。【解決手段】 光コヒーレンストモグラフィー装置は、光源16と、光源光を、参照光29と被計測試料22に照射する計測光28とに分ける光分割部19と、計測光28と、参照光29とを干渉させて干渉光とする干渉部19と、干渉光を計測する光検出部26と、運動可能な計測ヘッド201であって、その運動によって計測光28が被計測試料22に照射される位置が変化する計測ヘッド201と、計測ヘッド201の運動を測定する力学量センサ38と、光検出部26で計測された干渉光と、力学量センサ38で測定された計測ヘッド201の運動に基づいて、被計測試料22の情報を求める演算部27とを備える。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

光源と、 前記光源から出射した光源光を、参照ミラーに照射する参照光と被計測試料に照射する計測光とに分ける光分割部と、 前記被計測試料で反射した前記計測光と、前記参照ミラーで反射した参照光とを干渉させて干渉光とする干渉部と、 前記干渉光を計測する光検出部と、 外部からの操作によって、運動可能な計測ヘッドであって、該計測ヘッドが運動することにより、前記計測光が前記被計測試料に照射される位置または方向の少なくとも1つが変化する計測ヘッドと、 前記計測ヘッドの少なくとも一方向の運動を測定する力学量センサと、 前記光検出部で計測された前記干渉光と、前記力学量センサで測定された前記計測ヘッドの運動に基づいて、前記被計測試料の情報を求める演算部とを備える光コヒーレンストモグラフィー装置。

IPC (4)：

G01N 21/17 ,  A61B 10/00 ,  A61C 19/04 ,  G01B 11/24

FI (4)：

G01N21/17 620 ,  A61B10/00 E ,  A61C19/04 Z ,  G01B11/24 D

F-Term (56)：

2F065AA52 ,  2F065BB05 ,  2F065CC16 ,  2F065DD02 ,  2F065DD06 ,  2F065FF52 ,  2F065FF64 ,  2F065FF65 ,  2F065FF67 ,  2F065GG07 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ25 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL02 ,  2F065LL08 ,  2F065LL12 ,  2F065LL13 ,  2F065LL42 ,  2F065LL46 ,  2F065LL62 ,  2F065LL65 ,  2F065MM06 ,  2F065MM16 ,  2F065MM26 ,  2F065MM28 ,  2F065NN00 ,  2F065PP01 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ31 ,  2F065SS02 ,  2F065UU07 ,  2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB08 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059FF02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059PP04 ,  4C052NN03 ,  4C052NN04 ,  4C052NN15 ,  4C052NN16

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• 光コヒーレンストモグラフィーにおける回転反射体による多重連光遅延発生方法及び光コヒーレンストモグラフィー装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-137376   Applicant：丹野直弘
• 光コヒーレンストモグラフィーにおける透光体の動きによる高速光遅延発生方法及びその高速光遅延発生装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-114895   Applicant：科学技術振興事業団, エムテックスマツムラ株式会社
• スペクトル干渉に基づく光学・トモグラフィ-および光学表面プロファイル測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-082817   Applicant：カールツァイスイエナゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
• 形状測定方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-234738   Applicant：理化学研究所

Cited by examiner (6)

• 断層合成コンピュータトモグラフィを使用する3次元画像生成の方法と装置
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2000-534116   Applicant：ウェイクフォレストユニバーシティ
• 光計測システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-274123   Applicant：科学技術振興事業団
• 光断層像計測装置および計測方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-356115   Applicant：三井隆久, 株式会社スキノス
• 光イメージング装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-028231   Applicant：ユニバーシティーホスピタルオブクリーブランド, オリンパス光学工業株式会社
• グルコース濃度測定方法および測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-320439   Applicant：富士写真フイルム株式会社
• 光プローブ装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-279905   Applicant：オリンパス株式会社