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J-GLOBAL ID:200903066306704741

配線材料、金属配線層の形成方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 合田 潔 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995048861
Publication number (International publication number):1996250494
Application date: Mar. 08, 1995
Publication date: Sep. 27, 1996
Summary:
【要約】【目的】電気抵抗が10μΩ・cm以下、好ましい実施例では5μΩ・cm程度と極めて低く、かつ、高温においてヒロック・ピンホール等の欠陥が発生しない配線材料であって、陽極酸化法によって強固な酸化膜を形成可能なものを得ること。【構成】その組成式がAlx(MyN1-y)1-xで表され、Mは希土類元素群から選択された少なくとも一の元素であり、NはNb,Zr,Taのいずれかから選択された少なくとも一の元素であり、x=98〜99.5原子%、y=0.1〜0.9を具備する組成を有する合金であって、爾後の熱処理によってAlと上記NまたはMで表される元素との金属間化合物をマトリクス中に析出させた。また、このほかにNbをAlに対して0.5〜2.0原子%添加した合金でも同様の目的を達成可能である。熱処理温度はいずれも250〜450°Cの範囲が望ましい。
Claim (excerpt):
その組成式が実質的にAlxM1-x(Mは希土類元素群から選択された少なくとも一の元素、x=98〜99.5原子%)で表され、前記希土類元素の一部をNb,Zr,Taのいずれかから選択された少なくとも一の元素で置換したAl系配線材料であって、250°C〜450°Cで熱処理を施したもの。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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