質量分析システムおよび質量分析方法

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：小川勝男 , 田中恭助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005156157
Publication number (International publication number)：2006329881
Application date： May. 27, 2005
Publication date： Dec. 07, 2006
Summary：

【課題】微量なタンパク質由来のペプチドなどを、ユーザの欲するタンデム質量分析ターゲットとして計測の無駄なく自動的に判定処理する。【解決手段】測定対象物質をイオン化し、生成した種々のイオン種を質量分析し、生成した種々のイオン種の中から特定の質量対電荷比を持つイオン種を選択して解離させ、イオンの質量分析測定をn段階(n=1,2,...)繰り返すタンデム型の分析システムである。n段階目の質量分析であるMSn結果で、イオンの質量対電荷比に対するピークで表されたイオン強度に基づき、MSnの次の分析の制御内容を分析対象イオン毎に判定するデータ処理する。イオン化検出部14は試料から計測されイオン化されたデータを高精度に照合、同位体ピーク判定する。データ処理部15は、ある一定期間に測定した、例えば親イオンペプチドのMS1のカウント数をIとするとき、ペプチドのMS2の積算回数又は分析時間を1/Iに比例させる。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

測定対象となる物質をイオン化し、生成した種々のイオン種を質量分析し、前記生成した種々のイオン種の中から特定の質量対電荷比(m/z)を持つイオン種を選択して解離させ、イオンの質量分析測定をn段階(n=1,2,...)繰り返すタンデム型質量分析装置を用いた質量分析システムにおいて、 n段階目の質量分析であるMSn結果で、イオンの質量対電荷比に対するピークで表されたイオン強度に基づき、前記MSnの次の分析の制御内容を所定時間内に、分析対象イオン毎に判定するデータ処理部を設けることを特徴とする質量分析システム。

IPC (2)：

G01N 27/62 , H01J 49/26

FI (4)：

G01N27/62 V , G01N27/62 C , G01N27/62 X , H01J49/26

F-Term (14)：

2G041CA01 , 2G041DA16 , 2G041EA04 , 2G041EA06 , 2G041FA10 , 2G041FA12 , 2G041GA03 , 2G041GA10 , 2G041HA01 , 2G041JA02 , 2G041LA06 , 5C038HH16 , 5C038HH28 , 5C038HH30

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

質量分析方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-398185 Applicant：株式会社日立製作所
質量分析方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-301740 Applicant：株式会社日立製作所

Cited by examiner (4)

質量分析システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-152693 Applicant：株式会社日立製作所, 株式会社日立ハイテクノロジーズ
調整された波形/電荷減少質量分析法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2002-583969 Applicant：ビヨンドジェノミクス,インコーポレイテッド
質量分析スペクトルの解析システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-050485 Applicant：株式会社日立ハイテクノロジーズ

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