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J-GLOBAL ID:200903070285695272
P型ドーパントを含有する酸化亜鉛膜およびその製造方法
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
青山 葆 (外1名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2000564239
Publication number (International publication number):2003533006
Application date: Aug. 02, 1999
Publication date: Nov. 05, 2003
Summary:
【要約】p型の酸化亜鉛膜ならびにそのような膜およびpn接合またはnp接合の製造方法が開示される。好ましい実施形態において、このp型の酸化亜鉛膜はヒ素を含有し、ヒ化ガリウム基板上に成長させられる。このp型の酸化亜鉛膜は、正味のアクセプタ濃度が少なくとも約1015アクセプタ/cm3であり、抵抗率が約1オーム-cm以下であり、かつホール移動度が約0.1cm2/Vs〜約50cm2/Vsである。
Claim (excerpt):
p型ドーパントを含有し、そして少なくとも約1015アクセプタ/cm3の正味のアクセプタ濃度、約1オーム-cm以下の抵抗率、および約0.1cm2/Vs〜約50cm2/Vsのホール移動度を有する、基板上のZnO膜。
IPC (7):
H01L 29/22
, H01L 21/203
, H01L 21/225
, H01L 21/385
, H01L 31/10
, H01L 33/00
, H01S 5/327
FI (7):
H01L 29/22
, H01L 21/203 Z
, H01L 21/225 D
, H01L 21/385
, H01L 33/00 D
, H01S 5/327
, H01L 31/10 A
F-Term (28):
5F041CA41
, 5F041CA49
, 5F041CA57
, 5F041CA58
, 5F041CA67
, 5F041CA72
, 5F041CA73
, 5F049MA01
, 5F049MB01
, 5F049MB12
, 5F049PA09
, 5F049PA11
, 5F049PA20
, 5F049SS04
, 5F073CA22
, 5F073CB02
, 5F073CB17
, 5F073DA07
, 5F073DA13
, 5F073DA16
, 5F103AA01
, 5F103GG01
, 5F103HH03
, 5F103LL02
, 5F103LL03
, 5F103LL04
, 5F103LL07
, 5F103NN01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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特開昭62-124454
-
半導体装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-036363
Applicant:株式会社東芝
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II族-酸化物を含む光半導体素子及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-072003
Applicant:科学技術振興事業団
-
特開昭50-119998
-
薄膜形成方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-217100
Applicant:ミノルタ株式会社
-
特開平4-199752
-
透明導電膜および光電変換半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-246666
Applicant:松下電器産業株式会社
-
半導体発光素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-196073
Applicant:株式会社村田製作所
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