三次元形状計測装置及びその校正方法、プログラム、並びにコンピュータ読み取り可能な記録媒体

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：増井義久 , 比村潤相
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007003879
Publication number (International publication number)：2008170279
Application date： Jan. 11, 2007
Publication date： Jul. 24, 2008
Summary：

【課題】高さの校正を迅速に行う。【解決手段】三次元形状計測システム10は、計測対象に投影された光パタンを解析することによって、計測対象の三次元形状を計測する装置であり、光パタンを画像として読み取るためのラインセンサを備えた撮像ユニット15と、計測対象を移動させる移動ユニット11と、移動ユニット11を制御すると共に、ラインセンサにより読み取られた画像を解析することにより、計測対象の三次元形状を計測する画像解析・処理ユニット16とを備える。高さの校正は、複数の平面を段状に有する校正用ターゲット21を計測対象として行われる。画像解析・処理ユニット16は、校正用ターゲット21における或る平面に光パタンを投影させて、投影された光パタンをラインセンサによって画像として読み取り、これを、校正用ターゲット21における別の平面に対しても繰り返す。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

計測対象に投影された、位置に応じて周期的に輝度が変化する光パタンを解析することによって、計測対象の三次元形状を計測する三次元形状計測装置であって、上記光パタンを画像として読み取るためのラインセンサと、上記ラインセンサ及び上記計測対象の少なくとも一方を、上記ラインセンサの主走査方向と異なる副走査方向に移動させる移動部と、上記ラインセンサが上記光パタンを画像として読み取ることを、上記計測対象全体に対して行うように、上記移動部を制御すると共に、上記ラインセンサにより読み取られた画像を解析することによって、上記計測対象の三次元形状を計測する画像解析部とを備えており、該画像解析部は、上記ラインセンサにより読み取られた画像の輝度値を用いて、該画像に含まれる或る画素における光パタンの位相を算出する位相算出手段と、該位相算出手段が算出した位相に基づいて上記計測対象の高さ情報を算出する高さ算出手段と、複数の高さを有する校正用ターゲットにおける或る領域に投影された光パタンを上記ラインセンサが読み取るように上記移動部を制御し、これを上記校正用ターゲットにおける別の領域に対しても行うことにより、上記高さ算出手段が上記計測対象の高さ情報を算出するために必要な校正を行う校正手段とを備えることを特徴とする三次元形状計測装置。

IPC (2)：

G01B 11/25 , G06T 1/00

FI (2)：

G01B11/25 H , G06T1/00 315

F-Term (44)：

2F065AA14 , 2F065AA24 , 2F065AA53 , 2F065BB26 , 2F065BB27 , 2F065CC01 , 2F065CC28 , 2F065DD06 , 2F065EE07 , 2F065FF04 , 2F065FF09 , 2F065FF42 , 2F065FF61 , 2F065GG02 , 2F065GG03 , 2F065HH01 , 2F065HH06 , 2F065HH07 , 2F065JJ02 , 2F065JJ25 , 2F065LL04 , 2F065MM03 , 2F065PP12 , 2F065QQ13 , 2F065QQ21 , 2F065QQ23 , 2F065QQ24 , 2F065QQ25 , 2F065QQ27 , 2F065QQ28 , 2F065QQ31 , 2F065QQ33 , 2F065QQ42 , 2F065UU01 , 2F065UU05 , 5B057BA02 , 5B057CA08 , 5B057CA12 , 5B057CA16 , 5B057DA07 , 5B057DB02 , 5B057DB09 , 5B057DC09 , 5B057DC30

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

連続移動物体のリアルタイム形状計測方法及びシステム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-089799 Applicant：和歌山大学長
3次元形状測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-281310 Applicant：株式会社ミツトヨ

Cited by examiner (13)

非接触式三次元形状測定器の計測精度保証方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-016742 Applicant：トヨタ自動車株式会社
位相シフト法による三次元形状測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-059053 Applicant：株式会社リコー
特開平3-289505

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