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J-GLOBAL ID:200903077750335584

Al系III-V族化合物半導体の気相成長方法、Al系III-V族化合物半導体の製造方法ならびに製造装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002106102
Publication number (International publication number):2003303774
Application date: Apr. 09, 2002
Publication date: Oct. 24, 2003
Summary:
【要約】III族としてAlを含むIII-V族化合物半導体を、気相エピタキシー法で結晶成長させる方法にて、Alとハロゲン化水素とを、700°C以下の温度で反応させることで、反応容器である石英と激しく反応する塩化アルミニューム(AlCl)、臭化アルミニューム(AlBr)の発生を抑制した。このことで100ミクロン/hour以上の速度のAl系III-V族化合物半導体気相成長が可能となり、基板や耐劣悪環境半導体素子が量産できるようになった。【課題】Alを含むIII-V族化合物半導体を従来のHVPE法で結晶成長させる場合にて、石英と反応する塩化アルミニューム(AlCl)、臭化アルミニューム(AlBr)の発生を抑制すること。【解決手段】Alとハロゲン化水素とを、700°C以下の温度で反応することで、上記課題を解決した。
Claim (excerpt):
III族としてAlを含むIII-V族化合物半導体を、気相エピタキシー法で結晶成長させる方法において、固体Alとハロゲン化水素とを、700°C以下の温度で反応させ、Alのハロゲン化物を生成する工程を有することを特徴としたAl系III-V族化合物半導体の気相成長方法
IPC (2):
H01L 21/205 ,  C23C 16/34
FI (2):
H01L 21/205 ,  C23C 16/34
F-Term (24):
4K030AA03 ,  4K030AA17 ,  4K030BA02 ,  4K030BA38 ,  4K030CA04 ,  4K030EA01 ,  4K030FA10 ,  4K030JA10 ,  4K030KA02 ,  4K030KA49 ,  4K030LA14 ,  5F045AA03 ,  5F045AB09 ,  5F045AC13 ,  5F045AD11 ,  5F045AD14 ,  5F045AE29 ,  5F045AF03 ,  5F045BB09 ,  5F045CA10 ,  5F045CA12 ,  5F045DQ08 ,  5F045EK06 ,  5F045EK30
Patent cited by the Patent:
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