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J-GLOBAL ID:200903078122806647
眼底観察装置、眼科画像処理装置及びプログラム
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
三澤 正義
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007234695
Publication number (International publication number):2009066015
Application date: Sep. 10, 2007
Publication date: Apr. 02, 2009
Summary:
【課題】眼底の層厚の解析結果中のどの部分が血管領域を解析して得られた部分であるかを明示することが可能な眼底観察装置を提供する。【解決手段】眼底観察装置1は、眼底Efの複数の断層画像G1〜Gmを形成する。層厚分布演算部231は、断層画像G1〜Gmに基づく断層画像Gについて、その断面における眼底Efの層厚分布を演算する。血管領域特定部234は、断層画像G中の血管領域を特定する。制御部210は、当該層厚分布を表す層厚分布情報を表示部240Aに表示させるとともに、当該血管領域の位置を表す血管位置情報を層厚分布情報上に表示させる。【選択図】図6
Claim (excerpt):
低コヒーレンス光を出力する光源と、
前記低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、眼底を経由した前記信号光と参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記干渉光を検出して検出信号を生成する検出手段と、
前記検出信号に基づいて前記眼底の断層画像を形成する画像形成手段と、
前記断層画像に基づいて断層画像の断面における眼底の層厚分布を演算する演算手段と、
前記断層画像に基づいて断層画像中の血管領域を特定する特定手段と、
表示手段と、
前記層厚分布を表す層厚分布情報を前記表示手段に表示させるとともに、前記血管領域の位置を表す血管位置情報を前記層厚分布情報上に表示させる制御手段と、
を備えることを特徴とする眼底観察装置。
IPC (1):
FI (1):
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (9)
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スペクトル干渉に基づく光学・トモグラフィ-および光学表面プロファイル測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-082817
Applicant:カールツァイスイエナゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
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光断層画像取得装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-334096
Applicant:富士写真フイルム株式会社
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眼のコヒーレンス・トポグラフィック・レイトレーシング測定のための装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-147222
Applicant:カールツァイスイエナゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
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光断層画像表示システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-207140
Applicant:サンテック株式会社
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光画像計測装置、光画像計測プログラム、眼底観察装置及び眼底観察プログラム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-337628
Applicant:株式会社トプコン, 国立大学法人筑波大学
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眼底観察装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-003878
Applicant:株式会社トプコン
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光画像計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-003881
Applicant:株式会社トプコン
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眼底観察装置、眼科画像処理装置及び眼科画像処理プログラム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-160896
Applicant:株式会社トプコン
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眼底観察装置、眼底画像表示装置及び眼底観察プログラム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-252953
Applicant:株式会社トプコン
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