軽元素を含有する固体試料の組成比分析方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：田村敬二郎 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002048991
Publication number (International publication number)：2003247920
Application date： Feb. 26, 2002
Publication date： Sep. 05, 2003
Summary：

【要約】【課題】前処理を必要としないかもしくは簡便な前処理のみで、軽元素を含む固体試料の組成元素比を決定できる分析方法を提供する。【解決手段】軽元素を含有する固体試料にレーザを照射してアブレーションを生ぜしめ、生じたガス化物をキャリアガスにより元素分析装置に誘導して元素分析を行い、元素分析の結果を用いて固体試料を構成する元素の組成比を決定する分析方法。

Claim (excerpt)：

軽元素を含有する固体試料にレーザを照射してレーザアブレーションを生ぜしめ、前記レーザアブレーションにより生じた微粉体物若しくはガス化物をキャリアガスにより元素分析装置に誘導して前記固体試料を構成する元素の元素分析を行い、前記元素分析の結果を用いて前記固体試料を構成する元素の組成比を決定する、軽元素を含有する固体試料の組成比の分析方法。

IPC (3)：

G01N 1/28 , G01N 21/73 , G01N 27/62

FI (3)：

G01N 21/73 , G01N 27/62 V , G01N 1/28 T

F-Term (40)：

2G043AA01 , 2G043AA03 , 2G043BA01 , 2G043CA05 , 2G043DA05 , 2G043DA06 , 2G043EA08 , 2G043FA07 , 2G043HA01 , 2G043HA02 , 2G043HA09 , 2G043JA04 , 2G043KA01 , 2G043KA02 , 2G043KA03 , 2G043KA05 , 2G043KA09 , 2G043LA02 , 2G043LA03 , 2G052AA00 , 2G052AA39 , 2G052AB01 , 2G052AD32 , 2G052AD35 , 2G052AD42 , 2G052AD55 , 2G052CA04 , 2G052CA14 , 2G052EB02 , 2G052EB06 , 2G052EB11 , 2G052FD01 , 2G052FD08 , 2G052FD09 , 2G052FD13 , 2G052GA09 , 2G052GA15 , 2G052GA19 , 2G052GA24 , 2G052HA19

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

元素分析法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-305082 Applicant：住友電気工業株式会社
蛍光X線分析装置およびこれに使用する記録媒体
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-233461 Applicant：理学電機工業株式会社
レーザーアブレーション装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-002816 Applicant：日本電子株式会社

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