Pat
J-GLOBAL ID:200903082747487954
自動分析装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
作田 康夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999111788
Publication number (International publication number):2000009735
Application date: Apr. 20, 1999
Publication date: Jan. 14, 2000
Summary:
【要約】【課題】本発明は、自動分析装置から操作者に対し許可されたレベルが違っても、それぞれのレベルで使用が可能な画面構成を有するユーザーインターフェースを備える。【解決手段】自動分析装置に対する操作機能の使用が許可されると、グループ化された複数の操作機能の夫々に対応して設けられている全ての選択ボタンが、CRTディスプレイ100の画面内の所定領域に出現する。この場合、特定の操作者に対して許可された機能に対応するボタンはアクセス可能を示す色で表示され、許可されない機能に対応するボタンはアクセス不能を示す色で表示される。アクセス可能なボタンが選択されることにより、下位の操作画面が階層化状態で表示される。
Claim (excerpt):
サンプルを自動的に分析して検査項目の濃度を求める自動分析装置であり、該自動分析装置に関する操作機能を複数にグループ化した情報を記憶するメモリと、入力されたパスワードに対応するレベルを判定し、該判定したレベルに応じて特定グループの操作機能にアクセスすることを許可する制御部とを備えた自動分析装置において、複数にグループ化された操作機能におけるそれぞれのグループに対応する操作機能選択ボタンが表示される領域と、選択された操作機能選択ボタンに対応する操作機能画面が表示される領域と、を有する画面を出現させる表示装置を具備し、上記制御部は、レベルの判定に基づいて許可されたグループに対応する操作機能選択ボタンをアクセス可能であるように制御すると共に、許可されないグループに対応する操作機能選択ボタンをアクセス不能に制御する、ことを特徴とする自動分析装置。
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (22)
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特開昭63-011862
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特開昭63-167272
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特開昭63-314665
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特開平1-250758
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特開平3-148067
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特開平3-211463
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自動分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-156441
Applicant:株式会社日立製作所
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自動分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-298591
Applicant:株式会社日立製作所
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分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-045362
Applicant:株式会社日立製作所
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分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-133616
Applicant:株式会社島津製作所
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自動分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-219816
Applicant:株式会社日立製作所
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分析装置におけるファイル制御操作方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-270468
Applicant:株式会社堀場製作所
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自動分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-059375
Applicant:株式会社日立製作所
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自動分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-227979
Applicant:株式会社日立製作所
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自動分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-016383
Applicant:株式会社日立製作所
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自動分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-154422
Applicant:株式会社東芝
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機器分析用データ管理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-285957
Applicant:株式会社島津製作所
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分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-033024
Applicant:株式会社堀場製作所
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自動分析装置およびその支援システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-097754
Applicant:株式会社日立製作所
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排ガスの分析システムにおける演算式作成システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-014862
Applicant:株式会社堀場製作所
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検体処理システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-026008
Applicant:株式会社日立製作所
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多規則精度管理方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-084876
Applicant:ロッシュダイアグノスティクスコーポレーション
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分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-133616
Applicant:株式会社島津製作所
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特開平3-148067
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特開平1-250758
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分析装置におけるファイル制御操作方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-270468
Applicant:株式会社堀場製作所
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自動分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-156441
Applicant:株式会社日立製作所
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自動分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-016383
Applicant:株式会社日立製作所
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自動分析装置
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Application number:特願平7-059375
Applicant:株式会社日立製作所
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自動分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-154422
Applicant:株式会社東芝
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特開平3-211463
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自動分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-227979
Applicant:株式会社日立製作所
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分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-033024
Applicant:株式会社堀場製作所
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特開平1-250758
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自動分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-298591
Applicant:株式会社日立製作所
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分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-045362
Applicant:株式会社日立製作所
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自動分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-219816
Applicant:株式会社日立製作所
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機器分析用データ管理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-285957
Applicant:株式会社島津製作所
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自動分析装置およびその支援システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-097754
Applicant:株式会社日立製作所
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Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-014862
Applicant:株式会社堀場製作所
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検体処理システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-026008
Applicant:株式会社日立製作所
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多規則精度管理方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-084876
Applicant:ロッシュダイアグノスティクスコーポレーション
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特開昭63-011862
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特開昭63-167272
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特開昭63-314665
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