断面形状計測装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：関正治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001396195
Publication number (International publication number)：2003194526
Application date： Dec. 27, 2001
Publication date： Jul. 09, 2003
Summary：

【要約】【課題】自動倣い溶接装置など溶接部に接近して設けられるビームスキャン型レーザセンサにおいて、測定対象部位の条件変化によりセンサに入射する反射光が変動する場合にも、また温度変化が激しい場合にも、溶接形状を高精度で計測できる装置を提供することである。【解決手段】レーザ放射装置と1次元光センサと、レーザ放射装置からのレーザ光を測定対象に導き反射するレーザ光を1次元光センサに導くスキャニング機構を有するセンサヘッドを備え、さらに、入射光量調節器を備えて、スキャニング機構によるスキャニングに連動してレーザ光照射方向が以前に同じ照射方向であったときに1次元光センサが検出した受光量に基づいて受光量が所定の目標値に近づく方向に入射光量を調整することにより、測定精度を向上させる。

Claim (excerpt)：

レーザ放射装置と1次元光センサと、該レーザ放射装置からのレーザ光を対象に導いて1方向に走査し該対象から反射するレーザ光を前記1次元光センサに導くスキャニング機構を備えるものであって、さらに、入射光量調節器を備えて、該入射光量調節器が前記スキャニング機構によるスキャニング中のレーザ光照射方向に連動して以前に同じ照射方向であったときに前記1次元光センサが検出した受光量に基づいて受光量が所定の目標値に近づくように入射光量を調整することを特徴とする断面形状計測装置。

IPC (2)：

G01B 11/24 , B23K 26/00 310

FI (2)：

B23K 26/00 310 A , G01B 11/24 A

F-Term (32)：

2F065AA52 , 2F065BB05 , 2F065CC15 , 2F065FF01 , 2F065FF02 , 2F065FF09 , 2F065FF66 , 2F065FF69 , 2F065GG04 , 2F065GG06 , 2F065GG22 , 2F065HH04 , 2F065JJ02 , 2F065JJ25 , 2F065LL13 , 2F065LL22 , 2F065LL62 , 2F065MM16 , 2F065NN02 , 2F065NN06 , 2F065NN12 , 2F065NN17 , 2F065NN19 , 2F065QQ23 , 2F065QQ24 , 2F065QQ27 , 2F065QQ29 , 2F065QQ42 , 4E068BA00 , 4E068CB09 , 4E068CC02 , 4E068CE02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

走査型レーザ変位計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-009622 Applicant：日本電気株式会社
物体の形状測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-087424 Applicant：新技術事業団
三次元形状測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-138856 Applicant：株式会社クボテック

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