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J-GLOBAL ID：200903090526471142
光子誘起による陽電子消滅γ線分光及び短寿命原子核準位の測定法
Inventor：
,
,
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,
Applicant, Patent owner：
,
Agent (6)：
社本 一夫
, 増井 忠弐
, 小林 泰
, 千葉 昭男
, 富田 博行
, 桜井 周矩
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002313878
Publication number (International publication number)：2004150851
Application date： Oct. 29, 2002
Publication date： May. 27, 2004
Summary：
【課題】試料内部深くの陽電子消滅γ線分光分析を行うことは、陽電子を試料外部から導入すると困難であり、試料の表面近傍(数mm程度)の分析しか行えないので、試料内部の深い部分を非破壊で陽電子消滅γ線分光分析を行う事は不可能であった。【解決手段】レーザー逆コンプトンによるX線を使用した試料の陽電子消滅γ線分光分析方法であって、前記X線を、発生陽電子の寿命あるいは短寿命核種の寿命よりも短い時間幅にパルス化して試料中に導入し、試料内元素の陽電子消滅γ線分光を行う事により、試料内元素の陽電子消滅寿命及び/又は短寿命原子核準位を測定する。又は、レーザー逆コンプトンによって生成された高エネルギーのX線により起こる電子対生成は試料の組成によって効率が異なり、重い元素では効率は高いことを利用することにより、ポジトロン・エミッション・トモグラフィー(PET)によって見えない試料内部の状態のCT画像を得る。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
レーザー逆コンプトンによるX線を使用した試料の陽電子消滅γ線分光分析方法、或いは短寿命原子核準位を測定する方法であって、前記X線を、発生陽電子の寿命あるいは短寿命核種の寿命よりも短い時間幅にパルス化して試料中に導入し、試料内元素の陽電子消滅γ線又は短寿命原子核から放出されるγ線の分光を行う事により、試料内元素の陽電子消滅寿命又は短寿命原子核準位を測定する方法。
IPC (4)：
G01N23/22
, G01T1/172
, G01T1/36
, G21K1/00
G01N23/22
, G01T1/172
, G01T1/36 A
, G21K1/00 X
2G001AA01
, 2G001BA28
, 2G001CA01
, 2G001CA02
, 2G001GA03
, 2G001HA13
, 2G001HA14
, 2G088EE30
, 2G088FF02
, 2G088FF04
, 2G088FF07
, 2G088FF15
, 2G088GG21
, 2G088JJ01
, 2G088JJ12
, 2G088KK01
, 2G088KK15
, 2G088KK33
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Article cited by the Patent：
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Cited by examiner (1)
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