複屈折測定装置及び複屈折測定方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：西山恵三 , 内尾裕一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003389419
Publication number (International publication number)：2004205500
Application date： Nov. 19, 2003
Publication date： Jul. 22, 2004
Summary：

【課題】簡易な構成で短時間で複屈折を測定すること。【解決手段】複屈折測定装置において、試料に略円偏光の光を入射させる入射ユニットと、試料からの光の偏光状態を検出するストークスメーターと、前記ストークスメーターから出力されたストークスパラメターに基づいて前記試料の複屈折を演算する演算部と、を有することを特徴とする構成とした。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

試料に略円偏光の光を入射させる入射手段と、前記試料からの光の偏光状態を検出するストークスメーターと、前記ストークスメーターからのストークスパラメターに基づいて前記試料の複屈折を演算する演算部と、を有することを特徴とする複屈折測定装置。

IPC (1)：

G01N21/23

FI (1)：

G01N21/23

F-Term (17)：

2G059AA02 , 2G059BB20 , 2G059DD11 , 2G059EE04 , 2G059FF01 , 2G059GG01 , 2G059GG04 , 2G059GG08 , 2G059HH03 , 2G059HH04 , 2G059JJ02 , 2G059JJ12 , 2G059JJ19 , 2G059JJ20 , 2G059JJ22 , 2G059JJ30 , 2G059KK04

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

光学装置の偏光感度を測定する装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-238416 Applicant：ヒューレット・パッカード・カンパニー
偏光解析装置および偏波モード分散測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-011089 Applicant：安藤電気株式会社

Cited by examiner (9)

複屈折測定装置及び複屈折測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-312008 Applicant：株式会社リコー
特開昭63-103926
複屈折測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-066071 Applicant：有限会社ユニオプト

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