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J-GLOBAL ID:200903096989137070

成形品表面の官能基分析方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005340230
Publication number (International publication number):2007147365
Application date: Nov. 25, 2005
Publication date: Jun. 14, 2007
Summary:
【課題】 成形品表面における官能基の種類、その分布状態と密度について、精度良く分析できる、成形品表面の官能基分析方法を提供する。【解決手段】 官能基を有する化合物で構成される成形品表面における前記官能基の定性および定量分析する方法であって、前記官能基と、該官能基に対し選択的に反応する成分とを、固相で反応させ、成形品表面に分析用識別部を形成する工程と、原子間力顕微鏡により、前記分析用識別部を観察する工程と、前記観察工程において得られた画像を処理する工程と、を有する成形品表面の官能基分析方法。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
官能基を有する化合物で構成される成形品表面における前記官能基の定性及び定量分析する方法であって、 前記官能基と、該官能基に対し選択的に反応する成分とを、気相で反応させ、成形品表面に分析用識別部を形成する工程と、 原子間力顕微鏡により、前記分析用識別部を観察する工程と、 前記観察工程において得られた画像を処理する工程と、 を有する成形品表面の官能基分析方法。
IPC (2):
G01N 13/16 ,  G01N 31/00
FI (2):
G01N13/16 A ,  G01N31/00 Y
F-Term (11):
2G042AA01 ,  2G042BD04 ,  2G042BD05 ,  2G042BD08 ,  2G042BD09 ,  2G042BD10 ,  2G042CB06 ,  2G042FA20 ,  2G042FB01 ,  2G042HA07 ,  2G042HA10
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2) Cited by examiner (7)
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