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J-GLOBAL ID:200903098056863481

窒化物半導体デバイス

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 鈴江 武彦 (外5名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996290218
Publication number (International publication number):1998126006
Application date: Oct. 31, 1996
Publication date: May. 15, 1998
Summary:
【要約】【課題】インジウムを含む窒化物半導体を包含する活性層を有する窒化物半導体素子であって、発光効率が高い窒化物半導体デバイスを提供する。【解決手段】活性層(16)の少なくとも片面に、活性層(16)のバンドギャップエネルギーよりも大きなバンドギャップエネルギーを有する第1の窒化物半導体層(101)を活性層(16)に接して形成し、さらに、その上に第1の窒化物半導体層(101)のバンドギャップエネルギーよりも小さなバンドギャップエネルギーを有する第2の窒化物半導体層(102)と、第2の窒化物半導体層(102)のバンドギャップエネルギーよりも大きなバンドギャップエネルギーを有する第3の窒化物半導体層(103)を形成する。
Claim (excerpt):
第1および第2の表面を有し、インジウムを含有する窒化物半導体を包含する量子井戸構造の活性層、並びに該活性層の第1の表面に接して形成され、該活性層のバンドギャップエネルギーよりも大きなバンドギャップエネルギーを有する第1の窒化物半導体層と、該活性層の第1の表面側において、該第1の窒化物半導体層よりも該活性層から離れた位置に形成され、該第1の窒化物半導体層のバンドギャップエネルギーよりも小さなバンドギャップエネルギーを有する第2の窒化物半導体層と、該活性層の第1の表面側において、該第2の窒化物半導体層よりも該活性層から離れた位置に形成され、該第2の窒化物半導体層のバンドギャップエネルギーよりも大きなバンドギャップエネルギーを有する第3の窒化物半導体層とを含む窒化物半導体層構造を備えたことを特徴とする窒化物半導体デバイス。
IPC (2):
H01S 3/18 ,  H01L 33/00
FI (2):
H01S 3/18 ,  H01L 33/00 C
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
  • 半導体光素子
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-164732   Applicant:古河電気工業株式会社
  • 特開昭61-156788
  • 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-079045   Applicant:日亜化学工業株式会社
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