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J-GLOBAL ID：200903099126758288

非コヒ-レント光の干渉を用いた物質のリタ-デ-ションの測定方法

Inventor：
マイケル エイ マーカス

About マイケル エイ マーカス

, 
ジャン-ロン リー

About ジャン-ロン リー


Applicant, Patent owner：
イーストマン コダック カンパニー

About イーストマン コダック カンパニー


Agent (1)： 吉田 研二 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999174229
Publication number (International publication number)：2000028521
Application date： Jun. 21, 1999
Publication date： Jan. 28, 2000
Summary：
【要約】【課題】 異方性物質の光学リターデーションの測定方法を提供する。【解決手段】 異方性物質の光学リターデーションの測定方法。光のビームが物質のサンプル12に向けられ、物質の光学界面12a、12bから反射したビームの一部が収集され、干渉計20に向けられる。その結果生じた干渉信号が分析されリターデーションを測定する。リターデーションは干渉信号の特定のピークの間の距離として測定される。更なる実施形態では、複数の波長光源からの光が物質のサンプルに向けられる。
Claim (excerpt)：
二以上の光学界面を持つ異方性物質の光学リターデーションを測定する方法であって、光のビームを物質のサンプルに向けるステップと、物質の光学界面から反射した光の一部を収集するステップと、収集した光を干渉計に向けるステップと、収集した光に対応する干渉信号を生成するステップと、干渉信号を分析しリターデーションの大きさを測定するステップと、を含むことを特徴とする光学リターデーションの測定方法。
IPC (2)：
G01N 21/23 ,  G01B 11/02
FI (2)：
G01N 21/23 ,  G01B 11/02 G
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (12)
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