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J-GLOBAL ID:201003094683549321
Cu-Ga合金スパッタリングターゲットおよびその製造方法
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (5):
植木 久一
, 菅河 忠志
, 伊藤 浩彰
, 植木 久彦
, 竹岡 明美
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2010061280
Publication number (International publication number):2010265544
Application date: Mar. 17, 2010
Publication date: Nov. 25, 2010
Summary:
【課題】膜の成分組成の均一性(膜均一性)に優れたCu-Gaスパッタリング膜を形成でき、かつ、スパッタリング中のアーキング発生を低減できると共に、強度が高くスパッタリング中の割れを抑制できるCu-Ga合金スパッタリングターゲットを提供する。【解決手段】Gaを含むCu基合金からなるスパッタリングターゲットであって、その平均結晶粒径が10μm以下であり、かつ気孔率が0.1%以下であることを特徴とするCu-Ga合金スパッタリングターゲット。【選択図】図2
Claim (excerpt):
Gaを含むCu基合金からなるスパッタリングターゲットであって、その平均結晶粒径が10μm以下であり、かつ気孔率が0.1%以下であることを特徴とするCu-Ga合金スパッタリングターゲット。
IPC (4):
C23C 14/34
, C22C 9/00
, B22F 9/08
, B22F 3/15
FI (4):
C23C14/34 A
, C22C9/00
, B22F9/08 A
, B22F3/15 M
F-Term (27):
4K017AA04
, 4K017BA05
, 4K017BB18
, 4K017CA07
, 4K017DA09
, 4K017EB03
, 4K017EB21
, 4K017FA05
, 4K017FA09
, 4K017FA15
, 4K017FA23
, 4K018AA04
, 4K018BA02
, 4K018BB04
, 4K018CA50
, 4K018EA16
, 4K018FA06
, 4K018KA29
, 4K029AA09
, 4K029AA24
, 4K029BA21
, 4K029BC03
, 4K029BD00
, 4K029DC04
, 4K029DC07
, 4K029DC34
, 4K029DC39
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
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高Ga含有Cu-Ga二元系合金スパッタリングターゲットおよびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-323242
Applicant:三菱マテリアル株式会社
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薄膜形成用スパッタリングターゲット
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-272745
Applicant:日立金属株式会社
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特開平4-116161
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スパッタリングターゲット
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-212568
Applicant:東ソー株式会社
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スパッタリング方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-021994
Applicant:株式会社東芝
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特開昭61-019749
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Cu-Ga合金スパッタリングターゲット及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-244011
Applicant:真空冶金株式会社
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