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J-GLOBAL ID:201003094826955067
酸化膜表面の洗浄及び保護方法および酸化膜表面の洗浄及び保護装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
亀谷 美明
, 金本 哲男
, 萩原 康司
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008198367
Publication number (International publication number):2010040567
Application date: Jul. 31, 2008
Publication date: Feb. 18, 2010
Summary:
【課題】基板上のITO表面を洗浄及び保護する方法を提供する。【解決手段】プロセスチャンバPC100の内部に載置された基板上のITO表面にその表面の汚染物の分子の結合エネルギーより強いエネルギーを持つ光を光源から照射し、その照射中又は照射後、直ちに同一チャンバ内にてシランカップリングのガスを供給する。これにより、基板上のITO表面を洗浄及び保護することができる。【選択図】図1
Claim (excerpt):
反応容器内に載置された基板上の酸化膜の表面に、前記表面の汚染物の分子の結合エネルギーより強いエネルギーを持つ光を光源から照射する第1の工程と、
前記第1の工程中または前記第1の工程後直ちに前記反応容器内にシランカップリングのガスを供給する第2の工程と、を含む酸化膜表面の洗浄及び保護方法。
IPC (4):
H01L 21/304
, H05B 33/10
, H01L 51/50
, H05B 33/26
FI (4):
H01L21/304 645D
, H05B33/10
, H05B33/14 A
, H05B33/26 Z
F-Term (33):
3K107AA01
, 3K107CC21
, 3K107CC23
, 3K107CC25
, 3K107CC27
, 3K107CC29
, 3K107FF00
, 3K107GG23
, 3K107GG28
, 5F004AA14
, 5F004BA20
, 5F004BB02
, 5F004BC06
, 5F004BD04
, 5F004BD07
, 5F004EA38
, 5F004EB02
, 5F058AA10
, 5F058AB05
, 5F058AB06
, 5F058AC03
, 5F058AD05
, 5F058AE10
, 5F058AF01
, 5F058AH02
, 5F157AB02
, 5F157AB33
, 5F157AB42
, 5F157AC01
, 5F157AC13
, 5F157BG45
, 5F157CF80
, 5F157CF90
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
-
有機EL素子およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-021975
Applicant:パイオニア株式会社
-
有機エレクトロルミネッセンス素子およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-277387
Applicant:コニカミノルタホールディングス株式会社
Cited by examiner (8)
-
フラットパネルデバイス基板の表面処理方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平8-508946
Applicant:ユーブイテックシステムズインコーポレイテッド
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表面改質方法およびこれを用いた液晶表示装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-255565
Applicant:シャープ株式会社
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トナー外添材及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-236422
Applicant:電気化学工業株式会社
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電子写真感光体とその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-339323
Applicant:株式会社リコー
-
表示装置の作製方法、及びエッチング装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-265332
Applicant:株式会社半導体エネルギー研究所
-
紫外光照射方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-181713
Applicant:ホーヤ・ショット株式会社
-
基体の処理方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-101978
Applicant:株式会社フロンテック
-
半導体装置の製造装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-045045
Applicant:松下電器産業株式会社
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